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安科瑞泰SENresearch 4.0光谱椭偏仪
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深圳市新玛科技有限公司致力于电子测试测量领域为客户提供的测试和高效的解决方案和全面的系统服务，提供通用测试产品，示波器、逻辑分析仪、信号源、交流、直流电源、数据采集器、交流、直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案，专业提供电磁兼容测试系统，电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统，并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式涵盖测试仪器销售、 计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务，产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天，科研院所大学等行业， 我们严格遵循以合格的产品去服务于客户，帮助客户选择适合的解决方案。
随着中国市场越来越多的进口设备进入中国在中国每年有数量众多的技术*，价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置，对于每一个面对竞争的企业来说，这种浪费是致命的，我们认为我们必须了解客户的需求，将行业内众多成熟的方案帮助中小型技术企业客户实现合理的配置同时提高产品的稳定性和可靠性，并降低产品开发成本和生产成本。
新玛通过与Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等厂商的合作，为客户提供产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。
新玛通过与业务伙伴的紧密合作，凭借便捷的进货渠道和服务网络，为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务，成为电子测试领域的综合服务商。
详细信息
安科瑞泰SENresearch 4.0光谱椭偏仪
宽光谱范围和高光谱精度
SENresearch 4.0 光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm(深紫外)到3500 nm(近红外)。傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200μm的厚膜。
没有光学器件运动(步进扫描分析器原理)
为了获得测量结果，在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的一个*特性。
双补偿器2C全穆勒矩阵测量
通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSA原理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升级和实现成本效益的附件。
安科瑞泰SENresearch 4.0光谱椭偏仪
SpectraRay/4综合椭偏仪软件
SpectraRay/4 是用于*材料分析的全功能软件包。SpectraRay/4 包括用于与引导图形用户界面进行研究的交互模式和用于常规应用的配方模式。
SENresearch 4.0 是SENTECH新的光谱椭偏仪。每一台SENresearch 4.0光谱椭偏仪都是根据客户具体配置的光谱范围、选项和现场可升级附件而制造的。
SENresearch 4.0 使用快速的傅立叶红外光谱仪FTIR测量至2500 nm或3500 nm的近红外光谱。它提供了宽的光谱范围，具有的信噪比，可选择的光谱分辨率。可测量硅薄膜厚度高达200μm。傅立叶红外光谱仪FTIR的测量速度与二极管阵列配置相比，也可选择高达1700纳米。
新的金字塔形状的自动角度计具有从20度到100度的角度范围。光学编码器确保精度和角度设置的长期稳定性。光谱椭偏仪手臂可以独立移动，用于散射测量和角度分辨透射测量。
SENresearch 4.0 根据步进扫描分析器(SSA)原理进行操作。SSA将强度测量与机械运动分离，从而允许分析更加粗糙的样品。所有光学部件在数据采集期间都处于静止状态。此外，SENresearch 4.0 包括用于自动扫描和同步应用的快速测量模式。
定制的SENresearch 4.0椭偏仪可以配置用于标准应用。例如介电层堆叠、纹理表面、光学和结构(3D)各向异性样品。为各种各样的应用提供了预定义的配方。
