EM601-6 IC带状线TEM EM602-10 Mini TEM Cell
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EMC电磁兼容和可靠性分析仪器、仪表、设备综合服务供应商，
芯片级、板级、系统级ESD静电抗扰和EMI电磁干扰测试方案定制商，
行业涉及手机通信消费电子、汽车电子、显示行业、PCB板模组行业、芯片半导体行业，高校科研院所实验室，可为客户提供定制解决方案。
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详细信息
EM602-10 Mini TEM Cell*紧凑的设计针对超出标准TEM Cell频率范围的中等精度测量进行了优化。 EM601-6的工作原理与TEM Cell相同。测试腔体内的E-H场与输入电压成比例，与小室的高度成反比。当辐射物嵌入小室内部时，辐射波经传输线引导，朝着小室的输入/输出端口移动，并通过诸如频谱分析仪的接收器在端口进行辐射信号接收。利用这种方法，可以定量测量来自辐射物的RFI。由于该设备工作频段宽，因此可应用在EMI，EMS，接收机灵敏度测试等很多领域。
特征
高达6 GHz带宽（超过普通TEM的 1 GHz带宽）
可承受高达5 kV的高压脉冲注入，进行瞬态场测试
EM602-10 Mini TEM Cell应用 ：
IC的电磁抗扰度测试
IC的电磁辐射测试
IC的ESD场敏感度测试
IEC 61967-2：2005集成电路 – 150 kHz至1 GHz的电磁辐射测量 – 第2部分：辐射发射的测量 – TEM单元和宽带TEM单元法
IEC 61967-8：2011集成电路 – 150 kHz至3 GHz的电磁辐射测量 – 第8部分：辐射发射的测量 – IC带状线方法
IEC 62132-8：2012集成电路 – 电磁抗扰度测量，150 kHz至3 GHz – 第8部分：辐射抗扰度测量 – IC带状线方法
SAE 1752-3集成电路辐射发射的测量 – TEM /宽带TEM（GTEM）单元法; TEM Cell（150 kHz至1 GHz），宽带TEM单元（150 kHz至8 GHz）
