蔡司 Xradia 810 Ultra

为中低原子序数样品及科学与工业领域内的材料成像提供更出色的反差和图像质量的X 射线显微镜Xradia 810 Ultra

总体描述

Xradia 810 Ultra 将纳米级三维 X 射线的成像性能提升 10 倍。这款创新的 X 射线显微镜（XRM） 能在 5.4 keV 的低能量下工作，为中低原子序数样品及科学与工业领域内的材料成像提供更出色的反差和图像质量。

 

技术参数：

在实验室完成 50 纳米较高分辨率三维 X 射线成像
无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像
利用吸收衬度和相位衬度对不同材料进行成像，如中低原子序数材料、碳酸盐岩、页岩、组织、生物力学材料，在纳米级尺度上将速度提升了 10 倍
即便是无权限使用同步辐射装置的研究人员也能在实验室中获得类似于同步辐射的成像结果，或者让同步辐射时间变得更有效率
更快的图像采集速度大大提高了工作效率，让更多研究人员使用中心实验室
视场可在 16 至 65 µm 的范围内调整，更好的满足成像需求
在原位设备中样品的成像保持高分辨率
用于断层扫描重构的图像自动调整功能
在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验，让有限的同步辐射时间更加有效率
搭配 Scout-and-Scan 控制系统和基于工作流程的用户界面，尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室
 
 

特点：

更高分辨率、更高衬度、更快速度
蔡司是能在实验室仪器中提供 50 nm 分辨率无损三维 X 射线成像解决方案的厂商。除吸收衬度和 Zernike 相衬技术外，蔡司 Xradia 810 Ultra 还运用了改装自同步加速器的*光学器件，用以为研究提供业界出众的分辨率和衬度。通过在传统成像工作流程中加入关键的无损分析步骤，从而让这款创新型仪器实现了研究领域的突破。
Xradia 810 Ultra 能够利用 5.4 keV 下的更高衬度对大量难于成像的材料进行高分辨率 X 射线成像。借助吸收衬度和相衬技术来优化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、复合材料、燃料电池、地质样品及生物材料等。在*的同步加速器实验室内*引入纳米级 X 射线成像技术，蔡司 XRM 开创性解决方案始终让您走在科学研究的前列。
通过将纳米级 X 射线成像的速度提升一个数量级，拓展了 XRM 在科学和工业领域中的应用。对于中心显微实验室而言，更快的工作流程意味着有更多的用户能在更短的时间内综合利用仪器，从而利于扩大 XRM 的用户群。同样，您也可以快速地重复执行内部结构的四维和原位研究，使这些技术的应用面更广。在诸如数字岩石物理技术等有针对性的应用中，Xradia 810 Ultra 可用于评估油气钻探的可行性，在数小时内提供测量数据来表征关键性参数，如孔隙度。