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日本advance扫描热探针显微图像STPM-1000
日本农业检测仪器、日本质构仪、日本光学仪器、二手仪器、测量仪器、检测仪器、粉体仪器
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详细信息
日本advance扫描热探针显微图像STPM-1000
使用热探针的塞贝克系数和热导率的二维分布测量装置。
该设备是一种分布测量设备，可以同时评估塞贝克系数和热导率。同时评估可以轻松评估热电特性。还可以评估功能梯度材料，多层基板和有机材料的热导率分布。
有望用作材料评估的基本工具。
使用
- 热电材料的简单性能评估
- 功能梯度材料的热性能分布评估
- 评估无机材料，聚合物材料和晶体材料的均质性
- 实用材料（印刷电路板，多层板等）的缺陷评估
特征
- 1点分布可以在10秒内测量
- 间距为20μm时可以进行分布分析评估
- 通过使用标准材料进行校准，可以提高导热系数的精度。
- 样品尺寸大角度可达50毫米（可选）
日本advance扫描热探针显微图像STPM-1000
规格
| 测量温度 | 室温+ 5℃ |
|---|---|
| 大样本量 | 大角度20毫米x厚度5毫米 |
| 塞贝克系数精度 | ±10％（单个散装样品的厚度为1 mm） |
| 导热精度* | ±50％（单个散装样品的厚度为1毫米） |
| 1点测量时间 | 少于10秒 |
| 本地分辨率 | 20微米 |
| 位置控制分辨率 | 1微米 |
| 样品移动距离 | x轴50mm，y轴50mm，z轴10mm |
| 电源 | AC100V 15A（不包括PC）W |
|---|---|
| 外形尺寸（主体） | 宽510 x深650 x t460（毫米） |
| 重量 | 约70kg |
| 安装面积 | 大约W1200 x D700（mm）*桌子 |
应用实例
- 热电材料的简单性能评估
- 功能梯度材料的热性能分布评估
- 评估无机材料，聚合物材料和晶体材料的均质性
- 实用材料（印刷电路板，多层板等）的缺陷评估
