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GCSTD-A/B 高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD
- 型号
- GCSTD-A/B
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详细信息
高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD
主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）
应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
满足标准：
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质
损耗因数的推荐方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
方法概述：
高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
备注说明:
三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号
电极规格
固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm
液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM
产品配置：
1、测试主机：一台
2、测试电感：9个
3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）
其它规格：
1、环境温度：0℃～+40℃；
2、相对湿度：<80％；
3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率：约25W；
5、净重：约7kg；
6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
