现货供应HP8753ES网络分析仪HP 8753ES维修/回收/租赁

产品品牌： 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
产品型号： Agilent安捷伦网络分析仪3G/6G HP8753ES
产品介绍： 8753ET和8753ES射频网络分析仪为满足研制实验室或生产制造的测试需求，在速度、性能和
方便使用上提供了的结合。

Agilent 8753ES | HP8753ES | HP-8753ES 3G/6GHz射频矢量网络分析仪安捷伦30kHz-3G/6GHz
8753ET和8753ES以其覆盖3或6GHz频率范围的集成化S参数测试装置、
达110dB的动态范围以及频率扫描和功率扫描，为表征有源或无源网络、元器件和子系统的线性和非线性特
性提供了高效能的解决方案。

8753ES Agilent安捷伦网络分析仪3G/6G 产品系列的特点：
选择传输/反射分析仪（ET型）或S参数分析仪（ES）允许您针对您的应用选择性能与价格之间的佳关系。
网络分析仪的特点是有2个独立的测量通道，可同时测量和显示所有4个S参数。可以选择用幅度、相位、
群延迟、史密斯圆图、极坐标、驻波比或时域格式来显示反射和传输参数的任意组合。便于使用的功能
键能迅速访问各个测量功能。可以利用达4个刻度格子在高分辨率的LCD彩色显示器上以重叠或分离屏面的形
式来观察测量结果。为了驱动更大的外部监视器，以便于观察，增加了与VGA兼容的输出。

测试时序功能允许一次键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量一次，
分析仪便能储存键入，以致无需额外编程。还可以利用测试时序经并行或GPIB端口对外部装置进行控制。
为了测量混频器，调谐器和其它频率转换器件，频率偏置工作方式允许对网络分析仪独立于接收机调谐。
分析仪很容易以固定中频或扫描中频测试方式完成变频损耗、相位、群延迟和混频器统调的测量1。
功率计校准向对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。8753ET/ES自动对436A，437B，438A
E4418B或E4419B功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都可调到具有功率计的精度，或将网络分析
仪接收机校准来进行精确的功率测量。

另一些高生产率特点包括支持LIF、DOS JPEG和逗点隔开的变量（CSV）格式的内置软盘驱动器，非易失存储
器、串行和并行接口，DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括极限测试、
任意频率测试和标记跟踪功能。通过利用列表扫描工作方式来选择待测试的特殊频率以及在每个频率范围
设置独立的中频带宽和功率电平，可以缩短测量时间。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范
围的某一区段上的矢量精度。8753ET/ES与8753D/E为代码兼容，因而无需修改现有软件。

利用选件010，能观察在时域中的反射或传输响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换进行计算，
以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方式能观察器件的阶跃响应或冲击响应。
定时选通可用来除去一些不希望的响应，如接头失配，选通结果则可在时域或频率中显示。
S参数网络分析仪与时域功能的结合，为调谐谐振腔带通滤波器提供了简单的确定性方法。将时域中的滤
波器反射响应与适当调谐滤波器的响应进行比较，能揭示需要对哪些谐振器或耦合调节调谐。利用时域滤
波器调谐，很容易为这一复杂任务培训新人员，并大大简化精细调谐和故障查找步骤。
为了对器件进行更*的表征，选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以相对于基波的dBc数显示放大
器的扫描二次和总谐波电平。按动一个按钮，即可测量达-40dBc的谐波。
高稳定度的频率基准（选件1D5）提高了对高Q器件，如表面声波（SAW）器件、晶体谐振器或介质谐振滤
波器的频率测量精度。

ET型
8753ET的特点是有一个能提供各种各样幅度和相位测量的内置50Ω传输/反射（T/R）测试装置。频率覆
盖范围从300KHz到3或6GHz。T/R功能在对被测量器件进行测量时能给出很高的精度且极为方便。
新增加的响应校准能对传输测量中的源匹配影响进行修正。选件004将标准件的-20～+5dBm源功率范围
扩大到-85～+10dBm。

ES型
8753ES的特点是有一个能提供各种各样幅度和相位测量的内置50或75ΩS参数测试装置。全二端口误差
修正功能提供*的精度水准，S参数测试装置则便于进行正、反向扫频测量，而无需倒置被测件。
为了提高配置的灵活性，选件011取消了内置测试装置，以便能选择自己所需的测试装置。8753ES选
件011可与85046A/B和85047A S参数测试装置以及供其它特殊应用的测试装置配套使用。
选件014为获得大灵活性提供了可配置的测试装置。为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量，
特提供了TR*/LRM*校准。利用内置适配置器移去校准技术，还能实现对非插入式器件的高精度测量。