MT12/ST1287/ST1278/ST1288测量长度计介绍：
测量过程中，由于测量力、接触形式、被测件的自重等原因将使测量器具或被测件产生弹性变形，造成测量误差。具体将，弹性变形主要有仪器支架变形，被测件（如量块、线纹尺等）的支撑变形；测头、工作台与被测件的接触变形等。为什么接触式的测量器具都规定有测量力；为什么要规定接触形式；为什么在测量细长的被测件时要适当地选择支承点等，都是力图减少弹性变形，以减少弹性变形引起的测量误差。  
1．弹性变形引起的测量误差  
（1）支承变形  
当被测件水平放置时，其弯曲变形量的大小和变形状态与支承方式和支点的位置有密切的关系，对细长被测件而言，自重的影响更为显著。  
（2）接触变形  
2.不正确地选择测量力的大小、接触体的材料及接触方式将会引起较大的表面接触变形。  
MT12/ST1287/ST1278/ST1288测量长度计测量力引起的接触变形  
接触测量时，测量仪器必须有足够的测量力，以保证测头与被测件可靠地接触。但测量力的存在将在接触位置产生压陷变形而造成测量误差。一般按被测件公差来确定测量力的大小，当被测件公差小于2μm时，测量力不应高于2.5N；被测件公差2～10μm时，测量力应为2.5～4N；被测件公差大于10μm时，测量力应大于4N，小于10N。②与接触方式接触变形有关常见的接触方式分为点接触、线接触和面接触。从变形与接触面的关系讲，接触面积越小、压强越大，变形也越大。显然在相同的测量力的情况下点接触变形最大，面接触变形最小。接触方式在一般的测量要求中都有规定。如量块测量是用球测头对平面；外径千分尺测直径是平面测头对圆柱面；内径千分表测内径是球测头对圆柱面等等。我们在测量过程中一般都应遵循上述原则。

ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19A 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 39 01.. 346474-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 66S12 19A 1.50 ~1Vpp 100.00 90 OT 39 01.. 346474-03 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 010001 346478-01 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 370001 346478-11 
ST 1288 12 1.0 5mm KF01 02S12 19A 1.50 ~1Vpp 0.00 360 .. 03 01.. 349165-01 
ST 1208 12 1.0 5mm KF01 02S09 19R 1.50 ~11µApp 0.00 360 .. 04 01.. 349216-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 25.00 90 OT 0V 01.. 349218-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-03 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 3.00 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-04 

阿贝原则又称布线原则、串联原则，是长度测量中一个重要的原则。 定义：“如果要使测量仪器得出正确的测量结果，则必须将仪器的标尺安装在被测件测量中心线的延长线上。”凡违反阿贝原则所产生的误差叫阿贝误差。 符合阿贝原则所产生的误差是二次误差，当表尺与被称为测件测量中心线的夹角很小时，此误差可忽略不计。不符合阿贝原则所产生的误差是一次误差，标准尺与被测件的距离越大，误差越大，它是一种不可忽视的误差。 
按阿贝原则设计的最典型的仪器是阿贝比长仪、立式光学计、测长仪等。这样，由于导轨的不直度误差所造成的倾斜角的影响只能产生二次误差，因此对仪器导轨直线度的要求可以降低，这就降低了仪器制造成本。但缺点是串联布置，加大仪器长度尺寸，温度对变形影响也大。因此，在某些情况下不得不违反阿贝原则，采用并联布置的方式。如：游标卡尺测工件、万能工具显微镜纵向测量等。为减少所产生的测量误差（一次误差），一方面要提高导轨的加工精度，另一方面在测量时尽量缩短标准尺与被测件的距离。