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54-L77/10005353 X射线荧光分析专用薄膜

型号
54-L77/10005353
参数
供货周期:一周 规格:100mx75mm/卷 货号:10005353/54-L77 应用领域:医疗卫生,化工,生物产业,农业,石油 主要用途:适用于测量液体里元素含量应用 厚度:X射线荧光分析专用薄膜2.5微米
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详细信息

X射线荧光分析专用薄膜   54-L77/10005353   样品膜

1、产品名称:X射线荧光分析专用薄膜(POLY MHP)

2、产品规格:100mx75mm/卷

3、适用于台式荧光分析仪Benchtop XRF  ,型号:LabX3000,LabX3500,X-Supreme8000,MDX1000

4、其他说明:适用于测量液体里元素含量应用。

5X射线荧光分析铝质液体或粉状样品杯内套以及样品杯盖54-CK-100/新货号10011741,测量石油产品,汽柴油,PTA溶液,粉末状样品等。

日立高新技术X荧光光谱仪样品前处理设备与耗材的研发和生产,是XRF前处理设备和耗材领域的厂商。日立高新样品杯和样品膜广泛应用于XRF的样品制备和分析检测过程,日立高新样品膜薄膜张力特性,与日立高新样品杯组合使用,可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品,适用所有X射线荧光光谱仪。


日立高新技术分析科学零件和消耗品的设计旨在与客户仪器融合,帮助客户优化性能和生产力。




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产品参数

供货周期 一周
规格 100mx75mm/卷
货号 10005353/54-L77
应用领域 医疗卫生,化工,生物产业,农业,石油
主要用途 适用于测量液体里元素含量应用
厚度 X射线荧光分析专用薄膜2.5微米
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