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54-L77/10005353 X射线荧光分析专用薄膜
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X射线荧光分析专用薄膜 54-L77/10005353 样品膜
1、产品名称:X射线荧光分析专用薄膜(POLY MHP)
2、产品规格:100mx75mm/卷
3、适用于台式荧光分析仪Benchtop XRF ,型号:LabX3000,LabX3500,X-Supreme8000,MDX1000
4、其他说明:适用于测量液体里元素含量应用。
5、X射线荧光分析铝质液体或粉状样品杯内套以及样品杯盖54-CK-100/新货号10011741,测量石油产品,汽柴油,PTA溶液,粉末状样品等。
日立高新技术X荧光光谱仪样品前处理设备与耗材的研发和生产,是XRF前处理设备和耗材领域的厂商。日立高新样品杯和样品膜广泛应用于XRF的样品制备和分析检测过程,日立高新样品膜薄膜张力特性,与日立高新样品杯组合使用,可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品,适用所有X射线荧光光谱仪。
日立高新技术分析科学零件和消耗品的设计旨在与客户仪器融合,帮助客户优化性能和生产力。
供货周期 | 一周 |
规格 | 100mx75mm/卷 |
货号 | 10005353/54-L77 |
应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业,农业,石油 |
主要用途 | 适用于测量液体里元素含量应用 |
厚度 | X射线荧光分析专用薄膜2.5微米 |