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LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

型号
参数
产地类别:进口 价格区间:面议 应用领域:交通,冶金,航天,汽车
京海兴乐科技(北京)有限公司

中级会员7年 

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超声波探伤仪,磁粉探伤仪,黑光灯,探伤剂,胶片,硬度计,测厚仪,辐射仪,照度计等等

京海兴乐科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超声)MT(磁粉)PT(渗透)RT(射线)等设备及周边耗材

主要经营品牌:美国奥林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美国GE(原德国KK)、美国磁通Magnaflux

超声电子、SIUI、瑞典兰宝、美国SP公司、美国达高特、德国MR、英国易高、新美达、船牌、等等

提供的无损检测仪器设备主要有超声波探伤仪、相控阵探伤仪、超声波测厚仪、TOFD探伤仪、超声波探头、相控阵探头、涡流探伤仪、涡流探头、涡流阵列探伤仪、磁粉探伤仪、磁粉、紫外线灯、照度计、工业扫查器、航空航天检测系统、着色渗透剂、荧光渗透线、工业内窥镜、工业显微镜、光谱(合金)分析仪、工业X光机、工业CT、CR、DR、工业洗片机、管材的无损检测解决方案、复合材料超声波自动化检测、超声波板材/管材检测系统、大型压力容器超声波检测系统、汽车点焊超声波检测设备,以及其它各类型分析检测仪器。

长期以来,依托高素质的技术人员和销售队伍,本着诚信守法,客户*的经营原则,以良好的信誉、丰富的经验、周到的服务,为客户提供了*的检测设备及技术解决方案,赢得了国内外广大用户的信赖和好评。我们提供的设备、系统及方案应用于中国的各种*工业领域,

用户行业包括航空航天,核能电力,船舶制造,海洋石油,石油化工,机械制造,铁路交通,进口商检,技术监督,高校及研究机构等。依托高素质的技术人员和销售队伍,本着守法,诚信,客户*的经营原则,公司以良好的信誉,周到的售前和售后服务,赢得了广大用户的信赖和好评。

详细信息

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪   

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。    

可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。


随机附送仪器箱
(仪器的举例)
  特点概述

大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项
 出厂时已校准,立即可用
 在未知涂层上校准*
 零校准*
 在无涂层的基体上一点和多点校准*
 在有涂层的基体上校准*

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出

可选择的显示模式,以最佳形式去完成测量任务*
输入和极限监视*
Windows下有简单的存储读数档案管理*
可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计*

可统计评估999个读数
最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
在线统计,所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头
* 取决于配置级别
  3种配置级别以更好的完成测量人任务
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别

基本型 – 证明质量的基本特征
高级型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储


如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

这里有操作指南和制定模块的参考说明。




通过解锁代码可以很方便的升级
(证书举例)
  举例:仪器上的用户界面图像
选择菜单项目(例如:语言清单)

A语言清单
B卷轴条作为导航辅助



清晰的统计读数值和当前测量值

C基体
D当前测量值
E“可以测量”提示
F单位
G最小值和最大值
H标准偏离
I平均值
K测量值数量



电脑读数也被存储在目录和文件中

L显示读数的文件符号
M可自由选择的文件名
N卷轴条作为导航辅助



  多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。


探头类型测量方法测量范围订货号

标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方Fe0 - 3000 祄2442.100
标准探头 NFe 0?/font>NFe0 - 1000 祄2442.130
标准探头 NFe S 0?/font>NFe0 - 3750 祄2442.140
标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度Fe0.5 - 20 mm2442.120
标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位,例如:管子的内部Fe0 - 3000 祄2442.110
双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如:管子的内部涂层.Fe0.5 - 12.5 mm2442.200
微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:钻孔的底部FeNFe0 - 500 祄2442.300
2442.310
微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位FeNFe0 - 500 祄2442.320
2442.330
微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:管子的内壁和钻孔FeNFe0 - 500 祄2442.340
2442.350
注:点击单独的探头图片,可以得到更多详细信息





  技术资料
数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量个数值
存储: 最多 9999 个数值,140个文件
误差: 
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后) 
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄 
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄 
涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄

  附件
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里


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