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GY-MARS/T 5700B X射线荧光光谱分析仪
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GY-MARS/T 5700B X射线荧光光谱分析仪特点:
1、无损检测,测量时间短,可重复测量,检测结果稳定准确。
2、 高精度分辨率半导体探测器,有效提高分析精度。
3、*的DP4-I数字信号处理系统,突破传统分析电路模式,极大的提高了信号的稳定性和峰本比。
4、 针对卤素的检测,精心设计滤光准直器,提高了检测卤素的精确度与稳定性。
5、金属机箱及防射线泄露装置设计,有效地保障了操作的安全性、屏蔽了电磁干扰。
6、两级冷却及水冷型X光管,使得环境适应性更强,有效延长仪器寿命,降低使用成本。
7、可视窗和自动更换准直器设计,可实时监测被测样品,并且操作简单、方便。
8、 光谱的大图形显示,高效的数据库管理,自定义的报告输出形式,光谱的二次分析,使得实用性更强。
9、专用数据分析软件,针对不同的材质,内置多种分析模式,如金属、PE、PVC、铝镁、焊锡、铜合金等,可自由选择,提高检测精度。
GY-MARS/T 5700B X射线荧光光谱分析仪特点技术参数:
1、 仪器尺寸:630×445×400 (mm)
2、 样品仓尺寸:360×260×145 (mm)
3、 重量:约48kg
4、 工作环境:温度5—30℃ 相对湿度 ≤80%
5、 可分析元素范围:硫(S)- 铀(U)(可以检测无卤元素Cl和Br)
6、 检出限:Cd/Cr/Hg/Br/Pb/As≤30ppm , CL≤50ppm
7、 测量时间:200-500S (推荐)
8、 分辨率:149eV FWHM@5.9keV
9、输入电源:AC 90—242V 频率47—53Hz
10、额定功率:250W