薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。

众测机电研发生产的高精度薄膜测厚仪THK-02采用光栅传感器，适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量，也称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度检测仪和塑料薄膜厚度测定仪等。

测厚仪

高精度薄膜测厚仪主要参数

通用名称：测厚仪

仪器型号：THK-02

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

均匀性：0.3μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；

接触面积：50mm²(薄膜)； 200mm² (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：30Kg

标准配置：主机、液晶触摸屏、电源线、标准量块

选配件：非标测量头

匠心设计

•测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量

•可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制

•测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形，有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响

•进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性

测试原理

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

薄膜测厚仪生产厂家