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超声波涂层测厚仪PosiTector200
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超声波涂层测厚仪PosiTector200
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符合ASTM D6132和 ISO 2808标准。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
PosiTector200经过出厂校准,无需校准或调整即可测量的大多数聚合物涂层。如果需要,可以对已知厚度的涂层样品进行简单的厚度调整,使其成分尽可能接近预期应用。样品的厚度应等于或略大于待测涂层的预期厚度。 PosiTector200可以用来测量金属基体上的涂层吗? 在多情况下,是可以测量的!但是,应该注意以下几点:
什么是耦合剂?每次测量都需要耦合剂吗? 每次读取都需要耦合剂,以便将超声波传播到涂层中。光滑涂层的也可以用水作为耦合剂,较粗糙的涂层要用随机配的耦合剂。 PosiTector200可以用来测量测量包含颗粒或聚集体的涂层吗? 一般环氧树脂、聚氨酯砂浆和其他包含颗粒夹杂物(硅石、石英薄片、混凝土等)的涂层系统,将对我们的超声波定位仪200仪器提出重大的测量挑战。这是由固体颗粒干扰超声波脉冲的趋势引起的,通常会导致不可靠的厚度读数。 PosiTector200如何校零? 与磁或涡流原理量规不同,不需要未涂覆的基体作为零板来校零。当执行校零零时,只需将探头保持在空气中。 |