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F10-HC 薄膜厚度测量仪
- 型号
- F10-HC
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上海桑结实业有限公司（Sumche Shanghai）是国内的高科技仪器设备供应商，自成立以来与上各大仪器公司和品牌进行强强战略合作，致力于为用户提供高精度的分析检测仪器、环境模拟设备，以及配套的耗材、配件和优良的售后服务。公司目前是中国台湾铁木真科技股份有限公司在中国大陆地区的总代理，负责中国台湾铁木真全线产品在中国大陆地区的销售和服务。中国台湾金顿振动、跌落、冲击产品，德国贝莱克(Belec)直读光谱仪，以色列ScanMaster点焊探伤仪以及美国博曼(Bowman)X射线镀层测厚仪的区域总代理。这些产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域，并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。
桑结实业不仅拥有高品质的产品，更培养了专业的销售、技术和售后服务团队，并在国内拥有2个示范实验室，并拥有CNAS认证及实验室第三方认证资格，可为客户产品检测和设备考察提供服务和便利，旨在为客户提供更好的技术和*的解决方案，并提供持续而良好的售后服务，由此也获得了广大客户的信任与认可。
我们坚信，上海桑结永远是您可靠和信赖的伙伴；我们愿意，助用户事业飞翔，与用户共创未来。
详细信息
上海桑结实业有限公司（Sumche Shanghai）是国内的高科技仪器设备供应商，自成立以来与上各大仪器公司和品牌进行强强战略合作，致力于为用户提供高精度的分析检测仪器、环境模拟设备，以及配套的耗材、配件和优良的售后服务。
薄膜厚度测量仪以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件的模拟演算法设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。
简易操作界面
现在，具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用，这个功能允许用户汇入样品的影像，并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效，并将测量的结果显示在汇入的影像上让用户分析。
不需要手动基准校正
薄膜厚度测量仪F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。
背面反射干扰
背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战，具有F10-HC系统的*接触式探头能将背面反射干扰的影响最小化，使用者能以较高的精准度来测量涂层厚度。
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