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SID4-UV-HR 波前传感器(波前分析仪)
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代理商上海昊量光电设备有限公司
Aunion Tech Co., Ltd
专业源自专注 专注成就未来
自2008年成立以来,昊量光电专注于光电领域的技术服务与产品经销,致力于引进guo外*先进性与创新性的光电技术与可靠产品,为国内Z前沿的科研与工业领域提供优质的产品与服务,助力中国智造与中国创造! 目前,昊量光电已经与来自美国、欧洲、日本的多家光电产品制造商建立了紧密的合作关系。其代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究与国防等。
昊量光电坚持“专业源自专注,专注成就未来”的经营理念。近年来,我们专注于前沿的细分市场,为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等领域的客户提供系统解决方案。
作为一家以技术沟通与技术服务见长的高科技企业,我们所有的销售与技术服务团队成员都具有理工科方面的专业背景,并在公司接受相关领域的专业培训,在售前技术沟通、售后产品安装培训、产品问题解决、软硬件增值服务等方面为客户提供更加专业化的服务!我们专业高效的商务与物流部门凭借多年积累的贸易经验与规范化的制度流程,保障每一笔订货准时安全到达目的地,免除客户的后顾之忧!
秉承诚信、高效、创新、共赢的核心价值观,昊量光电坚持以诚信为基石,凭借高效的运营机制和勇于创新的探索精神为我们的客户与与合作伙伴不断创造价值,实现各方共赢!
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SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)
【SID4-UV-HR简介】
随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。
【关于Phasics】
Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。
一、 SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)主要特点
低至190nm波长感光灵敏
1 nm RMS高相位灵敏度
355 x 280超高相位取样分辨率
二、SID4-UV-HR波前传感器产品功能
波前像差测量
基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。 |
三、SID4-UV-HR 波前传感器应用领域
紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学
四、SID4-UV-HR 波前传感器主要规格
波长范围 | 190 - 400 nm |
靶面尺寸 | 13.8 x 10.88 mm² |
空间分辨率 | 38.88 µm |
取样分辨率 | 355 x 280 |
相位分辨率 | 1 nm RMS |
绝对精度 | 10 nm RMS |
取样速度 | 30 fps |
实时处理速度 | > 3 fps (全分辨率下)* |
接口种类 | CameraLink |
五、更多参数选型