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XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱
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生产厂家上海祥奉试验仪器设备厂主要产品包括紫外辐射老化试验箱、紫外光耐气候实验箱、氙灯辐射试验箱、上海氙灯试验箱、循环盐雾箱等,它是上海市计量局确保单位,并通过了ISO9001质量体系认证和CE认证,并在企业内部实施了CRM项目管理、是我国华东地区专业生产环境试验仪器等各种设备制造的厂家。科研院所提供了大量的试验设备,为保障产品可靠性构建了坚实的技术平台。据不*统计,由我厂提供给不同用户的试验设备,在为各个行业的各种关键器件试验中发挥了重要作用,受到用户的高度认可。在消化吸收*技术的基础上,我厂凭借着自主的研发能力,开拓创新。产品在华东地区乃至全国市场取得了一定的占有率。凭借我厂的过硬技术水平,承接了一批又一批的国内企业的实验室工程,较为突出的客户有北京GE(通用集团)、江阴众和电力、海信惠而浦、北京科技大学、北京化工大学、清华大学、上海交通大学、三菱电机、AO史密斯等大型企业,赢得了广大新老客户的大力支持,从而也提升了公司在环境试验行业的产品品牌竞争力。产品符合GB.GJB.BS.ASTM.EN.UL.ISO.CNS.DIN等相关检测标准。
产品系列公司主要产品包括各类,高低温试验箱,高低温恒定湿热试验箱,高低温交变湿热试验箱,高低温冲击试验箱,振动试验台,紫外照射试验箱,模拟运输振动台,大型步入式试验室,臭氧试验箱,烘箱设备,干燥设备,跌落试验台,淋雨试验箱,砂尘试验箱,可程式试验箱,摆杆淋雨试验箱,氙灯耐气候试验箱,盐雾腐蚀试验箱,老化试验箱,箱各类工业等实验仪器的生产。
公司还承接各类大中型非标干燥箱,试验箱,实验室等。产品广泛应用于航空,航天,军事,通讯,机械电子,电器,汽车,化工,生物医药、家电电子行业和大中专院校。在我们的服务领域,我们的专业化程度、技术文档水平、工程质量以及*服务理念得到了客户的充分认可,这也使得我们能与客户保持长期友好的合作关系。同时,我们还与多家仪器生产企业有着良好的伙伴关系,使我们在各方面得到更加完善的支持、上海祥奉试验仪器设备厂坚持“诚信、务实、开拓、创新、超越”的产品研发理念,*技术、严格的管理、可靠的质量、完善的服务,营造全新的祥奉形象。从而更好地为客户提供服务,而且远销市场。
一、产品介绍
XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱广泛使用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。
二、XF/WDCJ-100L两厢高低温冲击试验箱技术参数
型号 | XF/WDCJ-100L | XF/WDCJ-225L | XF/WDCJ-500L | XF/WDCJ-010L | |
工作室尺寸D×W×H | 450×450×500 | 600×600×600 | 800×800×800 | 1000×1000×1000 | |
外型尺寸D×W×H | 1560×870×1545 | 1710×1020×1845 | 1910×1220×2265 | 2110×1420×2665 | |
样品区尺寸D×W×H | 250×250×250 | 400×400×450 | 600×600×600 | 800×800×750 | |
功率(KW)A/B/C | 13/15/17 | 15/17/18 | 18/21/21 | 20/24/27 | |
性能 | 温度范围 | A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃ | |||
温度波动 | 高温室及低温室均±2℃ | ||||
样品区温度波动 | ±0.5℃(恒温时) | ||||
样品区承重 | 30kg | 30kg | 50kg | 60kg | |
温湿度运行控制系统 | 控制器 | 进口LED数显(P·I·D +S·S·R)微电脑集成控制器 | |||
精度范围 | 设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃,解析度:0.1℃ | ||||
制冷系统 | 进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式 | ||||
循环系统 | 耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮 | ||||
温度转换时间 | 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S | ||||
温度恢复时间 | ≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关) | ||||
温度冲击方法 | 垂直两箱法(两箱式冷热冲击试验箱 |
三、两厢高低温冲击试验箱执行满足标准及试验方法
GB11158-2008高温试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验