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EDX-7000 色散X射线荧光光谱仪
- 型号
- EDX-7000
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深圳市楚英豪科技有限公司（www.szyhtop.com），专注为客户提供环境可靠性试验、电磁兼容试验、整机结构测试设备，目标是成为值得信赖的设备供应商，以及环境试验、EMC、手机测试的交钥匙工程的整体方案解决。
一、经营产品
我们自主经营环境试验、可靠性试验设备、工业低温设备、手机测试设备并代理经营电磁兼容试验设备,并以提供专业、完善的产品配套及快速的售后服务,在各大电子、计算机、家电、通信、化工、科研等行业客户中,均得到广泛的认可及嘉许。
自公司创建以来，本着专业化的发展方向，一直致力于模拟环境实验设备和可靠度实验设备的技术开发、生产和销售。我们一直以踏实的态度、高性能的产品、*的制造工艺、专业负责的服务为广大客户的实验条件提供可靠的保证。多年来，我们的努力赢得的广泛的肯定和赞誉；我们一贯认为，客户的要求与期望是我们进步的较大动力。
我们在多次与客户沟通的过程、非标产品的开发案例、及为客户维修各国同类产品的服务中,累积了大量的设计、生产、技术改良、检测、计量、售后服务的*经验。为更好地适应市场的快速发展及客户的多样化要求,公司已具有性能可靠品质*的YHT品牌系列产品的研发和生产能力。
集设计制造、技术咨询、仪器贸易、客户资源多方优势为一体，借中国经济发展的大势，公司集中各方面的优厚资源，致力于服务电磁兼容（EMC）试验领域。
公司通过整合国内外的仪器设备供应商，向客户提供测试系统、售前售后支持、技术咨询等电磁兼容方向一站式服务。公司为瑞士HAEFELY、PRIMA在广东地区的特约代理商。
我公司主要成员都有过国内企业工作经历，在环境试验、可靠性试验与改进、产品寿命试验与规程及产品EMC设计，测试，整改以及EMC认证方面都积累了丰富的实践经验和技术网络。楚英豪科技(YHT)能够根据客户需求，配制环境试验、可靠性试验、电磁兼容测试系统，帮助客户制定符合相关标准的实验室整体规划和设备配置，同时我们还将为客户进行产品可靠性设计咨询，EMC测试整改等完善的售前和售后服务。
这座由技术，产品，服务搭建而成的桥梁将成为楚英豪(YHT)与客户之间畅通的纽带。楚英豪(YHT)将立足于诚信守则、*技术、服务优先的经营方式，以“为客户的产品试验提供持续的信任感”为理念，迈起坚实的步伐，与客户一道发展进步，分享成功！
详细信息
１．色散X射线荧光光谱仪概要 本规格书为使用 X 射线荧光分析法的能量色散型 X 射线荧光分析装置的说明。该装置具有以下特点： （１）搭载了无需液氮的SDD 检测器，灵敏度高，分析速度快。 （２）考虑到分析通用性，搭载了标配准直器和样品观察摄像头。 （３）搭载 5 种滤光片，从轻元素到重元素，可进行高灵敏度分析（其中一种为 EDX-7000/8000 新 采用的滤光片，使以往分析困难的 Pd, Ru, Rh 等元素的分析成为可能）。 （４）搭载标准软件：操作简便，初次使用人员也可进行简单分析的软件（PCEDX-Navi）和以往通用 分析软件（PCEDX-Pro）。 （５）完善了无需标样的定量分析方法--定性定量分析法(FP 法)，标配搭载背景 FP 法，该方法可以提 高不规则有机物样品和微小样品的定量分析精确度。 （６）紧凑的机体上拥有 300(W)×275(D)×约 100(H)mm 的大型样品室，从大型样品到微小样品，可 以灵活应对。
２．色散X射线荧光光谱仪构成 本装置由以下 5 部分构成： （１）Ｘ射线发生部 ……………该部为激发样品中的原子产生一次Ｘ射线的部分。由Ｘ射线管、Ｘ射线 电源、一次Ｘ射线滤光片构成。 （２）检 测 器……………… 装有检测荧光Ｘ射线的半导体检测器、检测器高压电源和前置放大器 等。 （３）计数・控制部 …………… 计数部由 MCA（多通道分析仪）等构成。控制部内置计算机，控制 系统整体。 （４）样品室・检测室部 ……… 该部分为大型样品室。与真空/氦气置换以及调整钮的选购件组合 后，可提高轻元素的分析灵敏度和多样品连续分析的分析效率。 （５）PCEDX 软件……… 进行主机控制和定性・定量分析的操作。 ３．标准构成 ３．１ X 射线发生部 （１）X 射线管....................................................................................................................................... 1 套 （２）X 射线源................................. 1 套 （３）X 射线一次滤光片.. ........................................................................................................................... 1 套 ３．２ 检测器 （１）半导体检测器.......... ........................................................................................................................... 1 套 ３．３ 计数・控制部 （１）计数・控制部...................................................................................................................................... 1 套 ３．４ 样品室・检测室部 （１）样品室・检测室................................................................................. 1 套 ３．５ EDX 软件（参照附件规格表）.................................................................................................... 1 套 ３．６ 标准配件 ......... 1 套 ３．７ 使用说明说...................................................................................................................................... 1 套 /11S142-0434B 2 ４．详细规格 ４．１ X 射线发生部 (1) X 射线管 样 式 侧窗、额定连续功率 50W Rh 靶 冷却方式 空冷（带风扇） (2) X 射线电源 电压 4 ～ 50kV、步进 1kV 电流 1 ～ 1000μA、步进 1μA 输出稳定性 ±0.5% 电路保护 检测过电压、过电流、过负荷、微放电 防 X 射线泄漏联锁装置 按键开关 X 射线发生有效/无效控制 (3) 警告显示 后部警告显示灯 发生 X 射线时亮灯 (4) X 射线一次滤光片 5 种自动切换 #1 17～25keV 范围内有效（元素示例 40Zr, 42Mo, 44Ru, 45Rh, 48Cd） #2 2～5keV 范围内有效（元素示例 17Cl, 24Cr） #3 5～7keV 范围内有效（元素示例 24Cr） #4 5～13keV 范围内有效（元素示例 80Hg, 82Pb, 83Bi, 35Br） #5 21～24keV（5～13keV）范围内有效 （ 元素示例 80Hg, 82Pb, 35Br, 48Cd） (5) 准直器 4 种自动切换 1mm, 3mm, 5mm, 10mmφ ４．２ 检测器 (1) 检测器 样式 硅漂移探测器 冷却方式 电子制冷（无需液氮） 检测范围 Na – U (EDX-7000)、C – U (EDX-8000/8100) ４．３ 计数・控制部 (1) 计数部 波形整形 数字处理（梯形滤光片） 检测范围 0～20,0～40（keV） 通道数量 2048ch 计数 2 32 - 1 / ch (2) 控制部 控制対象 X 射线发射部（X 射线电源、遮光器・滤光器、准直器）、检测器、S142-0434B 3 计数部 选购件 ： 真空检测单元、氦气置换检测单元*、调整钮驱动单元
