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RLK650 便携式红外发射率测量仪
- 型号
- RLK650
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西安立鼎光电科技有限公司是一家专业从事短波红外成像系统及光电测试装备的研发生产、系统集成、销售服务为一体的高新技术企业。公司专注于为客户提供从元件、组件、部件到全套光电系统产品的完整解决方案。
近年来，公司研制的短波红外成像系统在激光光斑检测、半导体检测、激光通信、光谱成像、激光切割、生物医疗、天文观测、安防、星敏感器、激光制导、反侦听、激光测振等领域得到了广泛的应用。
多年来，根据用户需求定制的多款光电测试装备，为用户产品的性能指标保证发挥了重要作用，得到了客户的高度认可。
详细信息
RLK650便携式红外发射率测量仪
RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用*进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um和8-12um）发射率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多项技术积累，吸收*进产品技术与特点，具有携带方便、操作简单等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研究等，是现代科研与军事研究的光电检测仪器。
产品优势 |
Ø 国产化商用化产品 |
Ø 产品经过工程化考验 |
Ø 隐身涂覆材料红外特性研究 |
Ø 飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估 |
产品特点 |
Ø 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射； |
Ø 测量波段：光双波段，3-5um & 8-12um; Ø 重复性：≤0.01； |
Ø 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好； |
Ø 彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然、一键测量、操作简便； |
Ø 数字存储：MicroSD卡，最大1024记录，分4组，TXT文件格式，方便在PC机上分析 技术指标 |
型号 Model | RLK650 |
原理Principle | 定向半球反射（DHR），20°±1°入射； |
测量波段 Spectral Response | 双波段 3-5um & 8-12um; |
工作模式 Work Mode | 发射率/反射率 |
重复性Repeatbility | ≤0.01 |
显示分辨率 Display Resolution | 0.001 |
显示屏Sreen Type | 3.5” TFT LCD 触摸屏 |
测量时间Measurement Time | 10秒(每次测量进行2次数据采集) |
预热时间Stanby Time | ＜90秒 |
数据存储 Data Store | Micro SD卡(8Gbyte)，最大2048条记录，分8组 |
数据下载 Data Download | 下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在Micro SD卡中 |
供电方式 Power Supply | Li电池，18V 3AH，持续工作时间>3小时,可更换 |
工作温度 Working Temperature | 0°～+45°，非冷凝 |
储存温度 Store Temperature | -30°～ +65°，非冷凝 |
外形尺寸Dimensio | 246mm*290mm*108mm(测量头) |
重量Weight | 2.3Kg(测量头) |
整体外形尺寸 Total Dension | 480mm*410mm*200mm(包装箱含电池、充电器、标准片等) |
整体重量 Total Weight | 6.4Kg(包装箱含电池、充电器、标准片等) |
