起订量:
联讯CT8201激光器芯片测试系统
高级会员第7年
代理商深圳市新玛科技有限公司致力于电子测试测量领域为客户提供的测试和高效的解决方案和全面的系统服务,提供通用测试产品,示波器、逻辑分析仪、信号源、交流、直流电源、数据采集器、交流、直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案,专业提供电磁兼容测试系统,电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统,并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式涵盖测试仪器销售、 计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务,产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天,科研院所大学等行业, 我们严格遵循以合格的产品去服务于客户,帮助客户选择适合的解决方案。
随着中国市场越来越多的进口设备进入中国在中国每年有数量众多的技术*,价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置,对于每一个面对竞争的企业来说,这种浪费是致命的,我们认为我们必须了解客户的需求,将行业内众多成熟的方案帮助中小型技术企业客户实现合理的配置同时提高产品的稳定性和可靠性,并降低产品开发成本和生产成本。
新玛通过与Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等厂商的合作,为客户提供产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。
新玛通过与业务伙伴的紧密合作,凭借便捷的进货渠道和服务网络,为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务,成为电子测试领域的综合服务商。
联讯CT8201激光器芯片测试系统:
联讯仪器 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。
CT8201
联讯仪器 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。系统集成了①DUT ID扫描→②从晶圆环上料→③运输→④高/低温测试→⑤下料→⑥分拣归类。
联讯仪器 CT8201 支持前向/后向光测试。支持多温区测试:3个测试座以支持高温/低温/常温并行测试。
联讯仪器 CT8201 测试效率非常快,可以在8s内完成上述6个流程。非常适合大批量量产应用。系统采用偏心凸轮结构、高重复性步进电机计、高精密夹具以及连接杆结构,使其具有超高的精度和稳定性。
联讯CT8201激光器芯片测试系统测试参数
类别 | 参数 | 描述 | 指标 |
LIV | Ith | 阈值电流 | <1% |
SE | 斜效率 | <2% | |
Iop | 工作电流 | ||
Vop | 工作电压 | ||
Pop | 工作功率 | ||
Pbop | 背向工作功率 | ||
Vf | 正向工作电压 | ||
Pf | 前向功率 | ||
Pb | 背向功率 | ||
Rs | 等效电阻 | ||
PfKink | 功率Kink | ||
PfIkink | 电流Kink | ||
PfLineary | 前向功率线性度 | ||
PbKink | 前向功率Kink | ||
PbIkink | 背向功率Kink | ||
PbLineary | 背向功率线性度 | ||
Iroll | 滚降电流点 | ||
光谱测量参数 | ʎc | 中心波长 | <20pm@可调激光器 |
ʎp | 峰值波长 | <20pm@可调激光器 | |
SMSR | 边模抑制比 | <3dB | |
SMSR | 边摸抑制比 | <2dB | |
Pʎp | 峰值功率 | ||
ʎ2pL | 左边第二峰值波长 | ||
Pʎ2pL | 左边第二峰值功率 | ||
ʎ2pR | 右边第二峰值波长 | ||
PΛ2pR | 右边第二峰值功率 | ||
DeltaPLR | 左右峰值功率差值 | ||
FWHM | 3dB 带宽 | ||
20dB Bandwidth | 20dB 带宽 | ||
EA | Idark | EA暗电流 | |
ER | EA 直流小光比 | <+/-0.2dB | |
LVI Curve | 功率&EA电流曲线 vs EA偏置电压 | ||
近场远场 | Near Field Beam waist | 近场束腰 | |
Near field angle @ X axis | X 轴近场发散角 | ||
Near field angle @ Y axis | Y 轴近场发散角 | ||
Near M^2 | M 平方因子 | ||
Far field angle @ Y axis | X 轴远场发散角 | ||
Far field angle @ X axis | Y 轴远场发散角 |
CT8201 激光二极管芯片测试系统指标
系统特性 | |
DUT 类型 | Die or CoC/CoS |
芯片ID识别成功率 | 99% |
分类功能 | 支持4-6 晶圆盘,软件配置分类计划 |
光测试能力 | 同时支持前向/背向光测试 |
温区数量 | 2温区测试座 |
NG DUT 容器 | 支持 |
ESD保护 | 所有和DUT相关的材料都是ESD防护的,良好接地 |
周期时间 | <8s完场所有流程测试 |
温度控制 | |
温度控制方法 | TEC 和加热板 |
温度控制范围 | 0°C到100°C |
温度控制分辨率 | ± 0.1°C |
温度控制精度 | ± 1°C |
温度控制稳定度 | ± 0.5°C |
温度防护能力 | 硬件防护@ >150°C |
激光器控制 | |
激光器驱动类型 | 每个芯片独立驱动 |
驱动电流极性 | 双极性 |
驱动电流范围 | 3A CW 和脉冲10A |
脉冲工作模式 | 支持50us 脉冲到CW, 占空比0-100% |
驱动电流回读 | 包含 |
驱动电流分辨率 | 0.05% @满量程 |
驱动电流精度 | ± 0.05% @满量程 |
驱动电流稳定度 | ± 0.03% @满量程 |
驱动一致性电压 | 0-+/-60V 可配置 |
电压测量范围 | +/-60V |
电压测量精度 | ± 10mV |
电压测量分辨率 | 0.03% |
驱动电压范围 | <0% |
驱动电压精度 | <0% |
驱动电压分辨率 | <0% |
标称工作电过冲 | <0% |
异常工作电过冲 | ±3.3V |
标称工作电下冲 | ±5V |
异常工作电下冲 | ± 50mV |
时间探测 | 功率丢失、网络丢失、短路、开路和过温 |
光学测量 | |
光功率测量能力 | 同时支持前向/背向测试 |
光功率测量范围 | 0-30mW |
光功率波长范围 | 900-1700nm |
光谱范围 | 700-1650nm |
光波长精度 | 50pm |
光波长分辨率 | 50pm |
机构参数 | |
DUT上料能力 | 6 英寸晶圆盘;X/Y/角度可调;XY 移动距离80mm; |
DUT 位置精度 | XY 位置精度≤10μm;重复性≤±1μm; |
DUT 捡起精度 | 移动范围4mm;重复性 ≤2μm; |
DUT 探针精度 | 移动范围3mm;重复性 ≤2μm; |
DUT 传输机构 | 均采用高精度步进电机带动,同步带传动,高精度滑轨导向实现; |
通用参数 | |
尺寸 | 1250×1000×1800mm(L×W×H) |
输入气体压力 | 0.4-0.6Mpa |
输入交流电源 | 200-240V, 50-60Hz |
计算机型号 | Advantech |
操作系统 | Microsoft Windows 7 |
软件平台 | Microsoft |
软件语言 | C# |
数据库 | SQL |
器件连接测试工具 | 集成 |
测试计划配置工具 | 集成 |
测试数据查询工具 | 集成 |