德国QNix 4200轻便涂层测厚仪

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德国尼克斯 QNIX 涂层测厚仪特点：
零位稳定： 所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位， 可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。 仪器零位的稳定是保证测量的前提。 一台好的测厚仪校零后， 可以长时间保持零位不漂移， 确保准确测量。
无需校准:多数涂层测厚仪除了校零外， 还需要用标准片一进行调校。 测量某一范围厚度， 要用某一范围的标准片调校。 主要是不能满足全范围内的线性精度。 不仅操作烦琐， 而且也会因标准片表而粗糙失效， 增大系统误差。 尼克斯涂
层测厚仪可以满足全量程范围内数值准确温度补偿： 涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。 同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。 所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术， 以保证不同温度下的测量精度。红宝.石探头： 探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。 普通金属接触探头， 其表而磨损后会带来很大的误差。*的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有*的*和提高。

QNix4200技术参数：

磁性基体(Fe模式)     可以

非磁性基体(NFe模式)  不可以

测量范围             Fe:0-3000um

显示精度             0.1um

精度                 0-50um:≤±1um

                     50-1000um:≤±1.5%读数

                     1000-3000um≤±3%读数

zui小接触面           10×10mm/QNix4200

zui小曲率半径         凸面：3mm；凹面：25mm

zui小基体厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

温度补偿范围         0-60℃

显示                 LCD液晶(带背光)

探头                 红宝石固定式

电源                 2×1.5V干电池

尺寸                 100×60×27mm

重量                 110g

QNix 4200是一款小型的，轻便的涂层测厚仪，敏感测量探头集成在量规中。它配备了一个可读取的LCD，用于通知读数，电池状态，操作模式和序列号。QNix 4200极小型轻便灵敏的测量探头集成在量规中。它配备了一个可读取的LCD，用于通知读数，电池状态，操作模式和序列号。

QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度。（Fe）