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XU-100 国产X射线荧光测厚仪
- 型号
- XU-100
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详细信息
XTU型国产x射线荧光测厚仪
国产X射线荧光测厚仪硬件配置
主机壹台
含下列主要部件：
(1)X光管 (2)Si-PIN电制冷半导体探测器
(3)放大电路 (4)高清晰摄像头
(5)高压系统 (6)单样品腔
标准附件
准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种）
国产X射线荧光测厚仪技术指标
分析元素范围：K-U
分析厚度检出限达0.005μm
高压：5kV-50kV
x射线荧光测厚仪同时可分析多达5层镀层
管流：50μA-1000μA
测量时间：5s-300s
样品腔尺寸：306mm×260mm
计数率:0-10000cps
工作环境要求
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰
环境温度要求：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
