膜厚量测仪优势:
1.下照式设计
可以快速方便地定位对焦样品。
2.高精密微型移动滑轨
快速精准定位样品。
3.
微焦X射线装置
最小检测面积可达0.2mm²的样品,可进行各类电镀层膜厚检测。
高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品,几秒钟也能达到稳定性。
4.
变焦装置算法
可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。
5.*的EFP算法
多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。
选择我们膜厚量测仪的理由:
1.一机多用,无损检测
2.最小测量面积0.002mm²
3.可检测凹槽0-90mm的异形件
4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测