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Exicor-System 美国Hinds Instruments
- 型号
- Exicor-System
测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
概述：
美国Hinds Instruments的Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具生产价值的测量双折射的能力。
Exicor系统的高灵敏度是美国Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品，该技术推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)。PEM的调制纯度增强了Exicor的灵敏度，这是调制器的谐振特性的结果。 PEM的调制频率为50 kHz，提供快速测量功能。
双检测器光学系统的设计与PEM科学相结合，提供了一个重要特性：光学系统中没有移动部件。 移动部件的缺失产生高机械可靠性以及测量的可重复性，并允许同时测量幅度和角度。
Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。 它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。
此设计减了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换的重复性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。 调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。 每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。 电子信号通过一个锁定放大器处理，提供非常低的信号检测。
由Hinds仪器公司开发的软件算法将来自电子模块的信号电平转换为可以确定线性双折射的参数。
计算机从两个输入中选择，允许从两个信号通道进行连续测量。 分析数据，然后显示延迟大小和轴角度并存储在文件中。 当在自动映射模式下操作时，x-y平移阶段将把样本移动到下一个预定的测量位置。 结果以用户确认的格式即时显示。
