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AP-CJ 移动式冷热冲击试验箱
- 型号
- AP-CJ
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详细信息
移动式冷热冲击试验箱适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。
移动式冷热冲击试验箱选型参数参考下列表格内容：
型号 | AP-CJ-50 | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | ||||
数 | 高 温室 | 温度暴露范围 | +60～＋200℃ | ||||
预热温度上限 | 200℃ | ||||||
升温时间 | +20～＋200℃约40min | ||||||
低 温 室 | 温度暴露范围 | 0～-65℃ | |||||
预冷温度下限 | -75℃ | ||||||
降温时间 | +20～-70℃约60min | ||||||
提篮 | 温度范围 | -65～150℃ | |||||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | ||||||
温度偏差 | ≤±2℃ | ||||||
转换时间 | ≤10S | ||||||
温度回复时间 | ≤5min | ||||||
温 | AP-CJ-50 | 条件一 | 高温暴露+150℃，低温暴露-65℃，暴露时间30min，样品重量5Kg铝 | ||||
条件二 | 高温暴露+70℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min，样品重量12Kg铝 | ||||||
AP-CJ-80 | 条件一 | 高温暴露+150℃，低温暴露-65℃，暴露时间30min，样品重量10Kg铝 | |||||
条件二 | 高温暴露+70℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min，样品重量30Kg铝 | ||||||
AP-CJ-150 | 条件一 | 高温暴露+150℃，低温暴露-65℃，暴露时间30min，样品重量15Kg铝 | |||||
条件二 | 高温暴露+70℃，低温暴露-40℃，暴露时间30min，样品重量40Kg铝 | ||||||
结构 | 外壳 | 冷轧钢板表面喷塑或不锈钢可选 | |||||
内箱样品架层架 | 不锈钢板分2层 | ||||||
隔热材料 | 聚氨酯发泡+超细玻璃棉 | ||||||
制 | 制冷方式 | 复叠式双级压缩机制冷方式（水冷） | |||||
制冷机 | *口法国泰康或德国比泽尔压缩机 | ||||||
加热器 | 镍铬合金加热丝式加热器 | ||||||
鼓风机 | 长轴离心风机 | ||||||
温度传感 | 铂电阻Pt100 | ||||||
控制器/记录装置 | PLC控制器、彩色液晶显示触摸屏/微型打印机 | ||||||
电脑接口 | RS485接口、RS232转换线、上位机操作软件（选配） | ||||||
内箱尺寸(mm) | D×W ×H | 350×360×400 | 400×500×400 | 500×600×500 | |||
装机功率（KW） | 19 | 23 | 25 | ||||
电源 | AC380V 50Hz三相四线制+接地线 | ||||||
标准配置 | 合格证、说明书、试验报告、及验收报告各1份、隔层架2层 | ||||||
满足标准 | GJB360.7-87温度冲击试验；GJB 150.5A-2009 *用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验； | ||||||
