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IGBT新型半导体全参数测试系统

型号
参数
产地类别:国产 应用领域:石油,制药,综合
上海标卓科学仪器有限公司

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  上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业,检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案,并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及:机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列,销售产品达成千上万多种,为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

公司一直推行:同质量比价格、同价格高质量的经营理念,赢得了广大用户的普遍赞誉和支持。建立了完善的营销服务网络与服务体系!公司拥有雄厚的资金实力和售前、售中、售后的技术服务力量,始终以“热诚服务、务实进取、奋发开拓”的原则作为发展宗旨,以“顾客始终满意”为目标与您携手共进!


详细信息

一、 产品特点

DBQ-BR3500 IGBT新型半导体全参数测试系统是当前国内的可测试超大功率器件的半导体分立器件检测系统,其主要特点是提供的测试电压高,测试电流大,测试种类多且测试项目全。

a) 系统配置高。其中:

该系统高压最大可配置2KV选件,可将产品阳-阴极、阳-控极截止态击穿电压测试范围和测试漏电流电压设置到2KV。国内其他产品实际仅达到1650V。

系统配置HCD大电流选件可将BR2500产品阳-阴极间通态参数测试电流范围从50A扩展到400A;BR3500产品阳-阴极间通态参数测试电流范围可从50A扩展到400A/500A/1000A/1250A/2500A。国内其他产品实际仅达到40A。

b) 测试种类多。与国内同类产品相比, BR2500能够测试12大类品种,其它同类产品最多可测6类;BR3500能够测试19大类品种,目前国内无此功能的产品。

c) 测试项目全、精度高。系统配置HCD大电流选件可以完成大于50A全直流参数的智能化精密测试,测试的IGBT参数包括:ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、rCE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证2%以内重复测试精度。

二、 产品应用领域

IGBT半导体器件测试系统的主要应用领域概括如下:

半导体元器件检测中心——可扩大检测中心的检测范围、提高检测效率,提升检测水平,增加经济效益;

半导体元器件生产厂 —— 可对半导体元器件生产线的成品进行全参数的测试、筛选、分析,以确保出厂产品的合格率;

电子电力产品生产、检修厂——可对所应用到的半导体元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;

航天、军工领域 ———  可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;

航空、电子信息等领域——可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;

机车、汽车、船舶控制系统生产厂——可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;

水力、电力控制系统生产厂——可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性。

优势行业:电力设备、地铁、铁路动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造的行业。

三、 技术先进

    IGBT新型半导体全参数测试系统于2008年初研制,经过科研人员的连续技术攻关, 在原有端半导体分立器件自动测试系统基础上,自行研发出国台1250A大电流测试台,圆满解决了功率IGBT等新型半导体器件的全参数测试难题,了国内在半导体自动测试领域的空白。该项产品综合技术指标达到国先水平。

2008年5月自样机研制成功以来, 这项新产品一经国内行业权企业和著名汽车企业测试试用,得到广泛的*。西安某专业研究所张总经理是国家IGBT等类新型功率器件测试标准的制定人之一,他在试用过该项测试系统后给予了很高评价,认为该系统自动化程度高,测试稳定性好,可测参数比他们进口的国外同类系统测试参数更全面, 适用更广泛, 了国内在该领域的空白,大有推广应用前景;国内某著名汽车制造公司项目负责人徐经理是动力汽车电子IGBT的设计专家,此前曾专程到欧洲厂家对该项测试技术和产品进行过考察,但通过使用BR3500进行样品测试后,认为BR3500测试系统符合生产线测试要求,当场提出订购该新产品的意向。

四、 主要技术参数.

   测试的IGBT参数包括:ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、rCE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证2%以内重复测试精度。igbt测试系统,可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压,并测量重要参数的数据,再与原出厂指标比较,由此来判定元件的好坏或退化的百分比。每个电流模块,都具有独立的供电系统,以便在测试时,提供内部电路及电池组充电之用; 可选购外部高压模块,执行关闭状态参数测试如:各项崩溃电压与漏电流测量达2KV。更高电压电流等级,例如电压4KV-7KV ,电流2500A需定制。

系统主要技术参数列表如下:

主极电压 : 2000V

主极电流:  50A

选    件 : 1200A

控制极电压: 20V

选    件:   80V

控制极电流: 10A

选    件:   40A

电压分辨率 :1mV

电流分辨率 :100pA

小电流选件 :1pA

测试速度 : 5mS/参数.

五、 可测试器件种类

DBQ-BR3500/A系统测试功能更加强大,可测试11大类大、中、小功率的半导体分立器件:

1. 二极管/ Diode

2. 稳压(齐纳)二极管/ Zener

3.  晶体管/ Transistor(NPN型/PNP型)

4. 可控硅整流器(普通晶闸管)/SCR

5. 双向可控硅(双向晶闸管)/TRIAC

6. MOS场效应管/  Power MOSFET(N-沟/P-沟)

7. 结型场效应管/ J-FET (N-沟/P-沟,耗尽型/增强型)

8.  绝缘栅双极大功率晶体管 /IGBT(NPN型/PNP型)

9.  光电耦合器/  OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)

10.  达林顿阵列

11. 继电器/ RELAY(A、C型)

上述所列类别包括各大、中、小功率半导体分立器件及其组成的阵列、组合、表贴器件。

测试方法符合国家行业总规范、相应的国家标准。

提供上述各类器件测试所用的不同封装形式的测试夹具和测试适配器。

可以定做各种阵列、组合封装、表贴器件的测试夹具。

帮助用户开发各种器件的测试程序。

六、DBQ-BR3500系统主要特征简述

1.DBQ-BR3500半导体分立器件测试系统是从美国引进的国产化项目。

产品目前已通过国内两家计量站的检测认定。

经过与国内其他测试系统对比使用,BR3500在功率范围、测试范围、系统测试精度、系统硬件的可靠性、测试参数的一致性、稳定性等多项指标已远远超过国内同类产品。

2.服务周到。

选用BR3500系统,厂家可以在一小时内答复解决方案,到达用户现场当天解决系统出现的所有问题。

3.作为精密仪器引进项目,BR3500系统严格按照美国产品之标准,全部选用优质可靠的元器件。系统严格按照军整机检验标准进行测试检验,确保系统的稳定性和可靠性。BR2500所使用的各种继电器,全部采用国外名公司生产的水银继电器,从而提高了系统的测试速度,延长了系统的使用寿命。

4.BR3500在实际操作中,可真实达到电压1000V、电流50A和基极电压20V、电流10A测试条件。

在极限值条件下测试,系统同样保持高精度和良好的重复行、稳定性。

此项指标远远领于国内其他产品。

5.本系统测试原理和方法符合国家相关规范和标准

6.大功率器件测试采用脉冲法测试,脉冲宽度为规定的300uS。

7.系统硬件设计先进,升级能力强。为用户今后做系统升级提供了有力的技术保障。

系统硬件支持电压升级到5000V,电流升级到1200A。基极电压升级到80V、基极电流升级到40A。

8.系统采用先进的嵌入式计算机结构,可以实现脱机测试功能。提高了系统的可靠性和使用灵活性.

9. BR3500系统和测试夹具全部采用多级开尔文技术,采用无电缆连接设计结构,保证测试结果准确可靠。所有测试结果与泰克370、371测试系统等国外原装系统相一致。

各种测试夹具均由高级器件插座和高级插头采用开尔文技术连接装配,不仅确保长寿命工作,可靠性

*,*使用寿命在5X106次以上。使测试数据更加准确无误。

10.系统具有被测器件引腿接触自动判断功能。遇到器件接触不良时系统自动停止对被测器件测试,可确保被测器件不受损坏。

11.真正的动态跨导测试。(国内其他系统采用直流方法测动态跨导,测试结果与器件实际值偏差很大)。

12.二极管极性自动判别测试功能,不需人工判别极性测试,方便操作。

13.具有被测器件引腿接触自动判断功能。遇到器件接触不良时系统自动停止对被测器件测试,可确保被测器件不受损坏。

14.具有单参数测试延时编程功能,用户可根据不同器件要求选择延迟时间,增强参数测试稳定性。

15.丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力,方便的用户信息文件、统计文件方式,可以给出批

次测试失效数量、合格数量,按实测指标分类器件数量。可以给出写字板、excel、记事本方式等。

16.96个程序步,99种分类

17.混合参数编程方式(参数测试编程不受器件类别限制),可以对同一器件选用不同类别器件的参数进

行编程,大大的扩展系统测试能力,对被测器件进行测试和分析,软件使用方便灵活。

18.自动/固定量程测试功能,选用自动量程时,系统根据实测范围自动调整以达到最高测试精度。

19.内部设有可选择的电流型负载和阻型负载。

阻型负载:机内设有不同阻值的电阻负载供选择。

电流型负载:机内设有不同档位的恒流源负载供选择。

20.用户可以按照参数要求,自己设定参数自动分档功能,以便把不同参数的器件自动加以区分、配对提

高器件使用价值。

21.高速参数测试和存储功能,参数分析能力。平均每参数测试时间只有3毫秒。

22.在线系统故障判断修复能力,便于用户应急处理排除故障。

23.自检、自校准功能。系统提供自检测试程序和夹具。系统故障自动判别到器件级。自校准功能可将

系统误差存入内置计算机,不需人工校准即可实现精确测试。

24.错误信息提示和在线帮助,面板显示被测器件不合格参数和单步实测参数值。在线帮助是在线提示用户如何简便使用该测试系统。

25.测试结果计算功能,系统可以将任意测试程序步的测试结果进行计算,形成新的测试结果,方便用

户进行分析,解决、扩展特殊参数的测试可以将测试程序中任意步的测试结果进行计算,形成新的测试结

果,方便用户对器件进行分析。

26.单步测试功能,用于对单个参数进行测试,同时将测试结果值在前面板上显示,方便用户分析。

27.测试结果分档功能:用户可以按照参数要求,设定参数自动分档功能,系统把不同参数的器件自动

加以区分、配对,提高器件使用价值。

28.机械手、探针台、多终端、可选扫描、多路阵列测试能力。

29.可进行实时运算,允许测试结果比较与数值计算。

30.功率源选用国际久经验证的电源线路,结合航天电源设计经验,在此基础上形成具有自主产权的功

率源发明专技术(已在申报)。  

31.系统设计综合美国、日本多种先进结构技术。

32.承诺确保系统使用寿命可以达到八年以上,系统功能正常,参数指标符合出厂标准。


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