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起订量：
EDX9000B XRF
- 型号
- EDX9000B
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公司简介：苏州英飞思科学仪器有限公司，坐落于美丽而现代的苏州工业园。公司专注于X射线荧光光谱仪的研发，生产和应用。基于多年的技术积累和沉淀，英飞思拥有整套XRF光谱仪的原生态研发和制造技术，包括50瓦，100瓦高压发生装置，50瓦光管的封装工艺，数字多道分析器（DPP），控制电路板的设计和研发，基本参数法（FP）软件著作权等。
我们不仅能提供整套光谱仪定制服务，而且能够提供专业而系统的元素成分分析解决方案，以满足客户日益严苛而高标准的测试需求。
公司英文全称：Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd
英文缩写：ESI
公司口号： Simply the best
公司产品：XRF荧光光谱元素分析仪（台式，便携式，手持式，全系列光谱仪）
XRF特点：无损测试，快速检测，准确分析
应用行业
贵金属，珠宝首饰，稀有金属
合金元素分析，牌号识别PMI，稀土，有色金属
矿产，地矿
土壤重金属
石油，化工(石油中低硫测试，油品中金属元素分析，船舶用油)
有害元素检测（RoHS 2.0，玩具，皮革，无卤分析）
镀层测厚
催化剂
古董，考古
食品安全，化妆品，药品重金属分析
建材，水泥，陶瓷，玻璃
液体及各种粉末等元素测试
详细信息
XRF EDX-9000B能量色散X荧光光谱仪
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供zuiyou轻元素检测效果
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
XRF EDX-9000B能量色散X荧光光谱仪
作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了zuixian进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了zuiyou的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。
ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。
EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：
•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等
XRF EDX-9000B能量色散X荧光光谱仪
EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用
>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析
>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析
>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等
>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等
>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等
>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等
产品特点
作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：
•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果
•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响
•50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同时进行元素和氧化物成分分析
•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全
•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高
•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像
•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差
•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位
矿产元素检测专家EDX9000B
>仪器参数
仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm |
超大样品腔：460mm*310mm*95mm |
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm |
仪器重量: 45Kg |
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围：1ppm- 99.99% |
探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管：50W高功率铍窗光管 |
高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护 |
电压：220ACV 50/60HZ |
环境温度：-10 °C 到35 °C |
仪器配置
>标准配置 | >可选配置 |
纯Ag初始化标样 | 磨样机 |
真空泵 | 压片机 |
矿石专用样品杯 | 烘干箱 |
USB数据线 | 熔片机 |
电源线 | 电子秤 |
测试薄膜 | 矿石标准样 |
仪器出厂和标定报告 | 交流净化稳压电源 |
保修卡 | 150目筛子 |
功能强大而界面友好的测试软件
界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。
软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。
EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了
>一键初始化仪器，基体自动匹配
>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比
>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响
>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度
>可实时刷新测量结果
>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线
>可定制化测试报告，一键打印
磁铁矿样品10次测试稳定性报告
测量次数 | Fe(%) | SiO2(%) | TiO2(%) | MnO(%) | Zn(%) | S(%) | P(%) | Pb(%) | K2O(%) |
1_1 | 65.4014 | 6.6936 | 0.1123 | 0.0489 | 0.0090 | 0.8309 | 0.0118 | 0.0076 | 0.0684 |
1_2 | 65.4336 | 6.6575 | 0.1038 | 0.0465 | 0.0095 | 0.9092 | 0.0121 | 0.0075 | 0.0667 |
1_3 | 65.3603 | 6.7127 | 0.1132 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_4 | 65.3935 | 6.7233 | 0.1278 | 0.0483 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0068 | 0.0684 |
1_5 | 65.3812 | 6.7145 | 0.1058 | 0.0493 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0066 | 0.0684 |
1_6 | 65.3905 | 6.7421 | 0.1021 | 0.0503 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0065 | 0.0684 |
1_7 | 65.3603 | 6.7041 | 0.1075 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_8 | 65.4161 | 6.7280 | 0.1086 | 0.0461 | 0.0093 | 0.8938 | 0.0115 | 0.0074 | 0.0668 |
1_9 | 65.4320 | 6.7036 | 0.1182 | 0.0512 | 0.0096 | 0.9005 | 0.0120 | 0.0079 | 0.0669 |
1_10 | 65.4546 | 6.7707 | 0.1072 | 0.0502 | 0.0097 | 0.8868 | 0.0121 | 0.0067 | 0.0677 |
平均值Average | 65.4024 | 6.7150 | 0.1107 | 0.0490 | 0.0095 | 0.8693 | 0.0118 | 0.0071 | 0.0677 |
标准偏差SD | 0.0316 | 0.0300 | 0.0077 | 0.0016 | 0.0002 | 0.0340 | 0.0002 | 0.0005 | 0.0007 |
相对标准偏差RSD | 0.0483% | 0.4466% | 6.9348% | 3.3142% | 2.5743% | 3.9090% | 1.6512% | 6.6142% | 1.0337% |
测量次数 | Na2O (%) | MgO (%) | Al2O3 (%) | As (%) | Cr (%) | Ni (%) | Cu (%) | Sn (%) | CaO (%) |
1_1 | 0.0203 | 0.7523 | 0.5222 | 0.0065 | 0.1636 | 0.0760 | 0.0476 | 0.0131 | 0.6359 |
1_2 | 0.0232 | 0.8134 | 0.5230 | 0.0061 | 0.1584 | 0.0787 | 0.0488 | 0.0114 | 0.6336 |
1_3 | 0.0213 | 0.8059 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0796 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_4 | 0.0216 | 0.7635 | 0.5234 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0761 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_5 | 0.0223 | 0.7815 | 0.5334 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0751 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_6 | 0.0222 | 0.7311 | 0.5512 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0741 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_7 | 0.0212 | 0.7559 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0756 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_8 | 0.0249 | 0.7737 | 0.5233 | 0.0068 | 0.1576 | 0.0760 | 0.0471 | 0.0131 | 0.6324 |
1_9 | 0.0204 | 0.7712 | 0.5123 | 0.0064 | 0.1659 | 0.0750 | 0.0475 | 0.0140 | 0.6241 |
1_10 | 0.0236 | 0.8017 | 0.5435 | 0.0071 | 0.1663 | 0.0730 | 0.0489 | 0.0130 | 0.6414 |
平均值Average | 0.0221 | 0.7750 | 0.5314 | 0.0069 | 0.1637 | 0.0759 | 0.0484 | 0.0133 | 0.6317 |
标准偏差SD | 0.0015 | 0.0261 | 0.0123 | 0.0004 | 0.0033 | 0.0020 | 0.0008 | 0.0009 | 0.0054 |
相对标准偏差RSD | 6.6056% | 3.3702% | 2.3177% | 5.8244% | 1.9863% | 2.5892% | 1.6256% | 6.5508% | 0.8578% |
