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系列 贝克休斯超声波测厚仪探头
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详细信息
贝克休斯超声波测厚仪探头
贝克休斯超声波测厚仪探头
欧洲规格G...MN系列
A=11B=13 C=25.6
晶片直径5mm带宽45-65 Microdot接口，延迟块需单独订货
型号 | 频率 | 近场距离 |
G5MN | 5MHz | 5mm |
G10MN | 10MHz | 10mm |
G15MN | 15MHz | 15mm |
9.5mm延迟块CLFV1
12.5mm延迟块CLFV3
北美规格DFR系列
Mini-DFR:A=10.4mmB=19.6mm C=4.8mm
6mm晶片DFR:A=13mmB=21.3mm C=7.6mm
13mm晶片DFR:A=22.4mmB=35.1mm C=15.2mm
Mini-DFR探头晶片尺寸3mm,频率20MHz,带宽50-100,Microdot接口
型号：FDCP--XCDR MINIDFR 20X.12
探头订货号：113-518-650，延迟块订货号：118-400-502
6mm/13mm晶片DFR探头6dB带宽范围50% -100%
DFR探头订货号：
探头频率 | 晶片直径 | 探头订货号 |
2.25 | 6 | 113-122-660 |
13 | 113-140-500 | |
3.5 | 6 | 113-123-660 |
5 | 6 | 113-124-660 |
13 | 113-144-660 | |
10 | 6 | 113-126-660 |
13 | 113-140-602 | |
15 | 6 | 113-127-660 |
配合6mm晶片的9.5mm延迟块订货号：118-440-050
配合6mm晶片的12.5mm延迟块订货号：118-440-051
配合13mm晶片的12.5mm延迟块订货号：118-440-052
笔试探头K-PEN
聚集，高分辨率笔式探头
延迟块、手柄可更换
极小接触面，用于高度弯曲表面，如涡轮叶片
能够伸到表面凹坑底部测量壁厚
探头订货号：
7.5MHz | 20MHz | |
笔直探头 | 389-042-200 | 389-030-290 |
45°探头 | 389-042-880 | 389-041-270 |
90°探头 | 389-042-870 | 389-040-66 |
直径1.7mm延迟块387-003-109
直径2.3mm延迟块387-003-110
贝克休斯 绝对式涡流探头 系列
特征：
绝对式
屏蔽式
笔式塑料外壳（方便手持）
Micordot接口
用途：
铁或非铁材料的表面开口缺陷检测
适合在狭窄的空间检测
贝克休斯 探伤仪欧规探头 系列
特点
持久耐磨的工作面
与金属匹配良好
比保护膜探头有更高增益余量
应用
用于检测结构简单的金属零件如大型锻件、铸件、坯料
小款探头用于管材、板材、棒材、储罐、小型锻件
叠层、分层结构、粘接检测
大型部件和难于穿透的材料检测
美国Bakerhughes 贝克休斯超声波探头 系列
贝克休斯超声波探头
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