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YT8200 金属电镀测厚仪
- 型号
- YT8200
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3nh、TILO、Sine image（三恩时、天友利、赛麦吉）均是本集团公司旗下的注册品牌。广东三恩时科技有限公司是一家服务于工业智能制造的高科技企业，能提供在线测量和智能表面测量解决方案的系统集成商，切实帮助企业快速发现生产过程中产生的问题和症结，提升现场管理水平、优化工艺流程、改善产品质量、提高生产效率、降低损耗与成本，助力客户迈入“智能制造”时代！本公司的源头企业始创于1998年，长期以来，专业从事颜色管理领域的研发、生产、销售及服务。 3nh是国内大型的测色色差仪研发、生产厂家，产品系列有：TS系列分光测色仪、YS系列光栅式分光测色仪（便携式/台式）、NS系列分光色差仪、NH系列便携式电脑色差仪和NR系列手提式色差仪； TILO品牌标准光源箱，拥有大型的研发、生产、销售基地； Sine Image是本公司旗下的图像测试卡、测试软件和解决方案品牌，包括自主研发生产的高清ISO12233分辨率（解析度）测试卡和其它全系列测试卡、照明光源、测试软件和测试解决方案等，公司建有专业的影像测试实验室。
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详细信息
产品介绍:
经济型分体铁基涂层金属电镀测厚仪YT8200是3nh公司制造的*拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪，能依据磁性法快速、准确的无损检测各种涂覆在铁磁性金属基底上的各种非磁性涂层厚度。
铁基涂层测厚仪YT8200测量准确、测试量程大、多种校正模式、多种测量模式、定位方便、功能强大，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业等表面工程检测领域，是涂层表面处理行业的基本装备。
Fe基探头可检测喷涂在各种磁性基体(比如钢铁)上的各种非磁性涂层厚度，例如铁板的油漆层、喷粉层、涂瓷层、镀铬层、镀铜层、镀锌层等。
经济型分体铁基金属电镀测厚仪YT8200特点
1、支持零点、单点、五点校正
支持多种校正方式，测试更便捷，可满足更高测试精度需求
五点校正
2、IPS纯彩屏，操作流畅，存储容量大
IPS纯彩屏
3、测量模式丰富
涂层测厚仪YT8200有基础模式、品管模式、连续模式、统计模式可供选择，适应更多测试场景
测量模式丰富
4、精确测量曲面平面
凸面半径5mm；凹面半径10mm
精确测量曲面平面
5、高灵敏探头
自主研发高灵敏探头反应速度快，测试更加准确
高灵敏探头
6、支持蓝牙，手机APP、微信小程序更多扩展功能
可即时通过蓝牙把测量数据传输到手机，进行相应的数据编辑和处理，输出测试报告。
支持蓝牙
经济型分体铁基涂层测厚仪YT8200技术参数
产品型号 | YT8200 |
产品名称 | 经济型分体铁基涂层测厚仪 |
特性 | Fe基探头可检测喷涂在各种磁性基体(比如钢铁)上的各种非磁性涂层厚度，例如铁板的油漆层、喷粉层、涂瓷层、镀铬层、镀铜层、镀锌层等。 |
符合标准 | ASTM B499,ASTM D1400，ASTM D709; |
基体模式 | 铁基 |
探头形式 | 分体式 |
定位结构 | / |
分辨率 | 1μm |
测量范围 | 0~2000μm |
测量精度 | 零点校正:±(3%H+1)μm； |
显示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
接口 | Type C USB;蓝牙5.0；按键 |
存储数据 | 1000条 |
电池电量 | 锂电池，充满电单次可连续测试10000 |
测量模式 | 基础模式、品管模式、连续模式、统计模式 |
ZUI小测量尺寸 | 10×10mm |
ZUI小测量厚度 | 磁性：0.2mm |
ZUI小曲率 | 凸面半径5mm；凹面半径10mm |
显示单位 | μm/mil |
尺寸 | 102×50×20mm(探头Ø18x69) |
重量 | 80g |
工作温度 | 0~40ºC(10~90%RH无凝露) |
储存温度 | -10~50ºC |
软件支持 | 微信小程序,鸿蒙,Windows,Andriod,IOS |
标准附件 | 基体1块(铁基体),腕带，擦拭布,USB数据线，定位片，校准片 |
可选附件 | 打印机，5V-2A电源适配器 |
注： | 校准片一套5片(厚度略有差异)，技术参数仅为参考，以实际销售产品为准 |
涂层测厚仪测量影响因素：
a基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
