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LET-2000D 力钛科（Letak）半导体静动态测试系统
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- LET-2000D
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深圳市新玛科技有限公司致力于电子测试测量领域为客户提供的测试和高效的解决方案和全面的系统服务，提供通用测试产品，示波器、逻辑分析仪、信号源、交流、直流电源、数据采集器、交流、直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案，专业提供电磁兼容测试系统，电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统，并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式涵盖测试仪器销售、 计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务，产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天，科研院所大学等行业， 我们严格遵循以合格的产品去服务于客户，帮助客户选择适合的解决方案。
随着中国市场越来越多的进口设备进入中国在中国每年有数量众多的技术*，价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置，对于每一个面对竞争的企业来说，这种浪费是致命的，我们认为我们必须了解客户的需求，将行业内众多成熟的方案帮助中小型技术企业客户实现合理的配置同时提高产品的稳定性和可靠性，并降低产品开发成本和生产成本。
新玛通过与Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等厂商的合作，为客户提供产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。
新玛通过与业务伙伴的紧密合作，凭借便捷的进货渠道和服务网络，为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务，成为电子测试领域的综合服务商。
详细信息
LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统
LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统
是满足IEC60747-8/9、JESD24标准，旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。
双脉冲测试法可以测试IGBT模块和驱动的性能，获取IGBT稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估IGBT模块和驱动的性能，并进行电路参数的优化。
具体包括测试IGBT的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、短路保护功能等，可以通过测试进行优化栅极电阻RGON和RGOFF参数、吸收电路参数、开关频率设置等，并可以进行IGBT模块的并联和串联实验。
硬件优势:
-采用12 bit示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数
-采用光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC\GAN的测试难点
-高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求
-可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头
-电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
-器件驱动设计支持SIC/GAN器件
-系统带宽：>400MHz
-系统可以定制
软件特点：
测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复参数
支持器件类型多：单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
测试方式：单脉冲、多脉冲
离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据离线分析
测试UI符合工程师的使用习惯
测量项目及器件支持扩展
