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ZT-CTH-56C 浸渍式温度冲击试验箱
- 型号
- ZT-CTH-56C
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我们的经营理念：
正台——之产品是集中国台湾、日本、西德众多品牌之优点，改进其缺陷的高科技产物。
正台——是一家专业从事可靠性环境试验设备研发、生产、销售及服务的高科技企业，为各大电子、化工、航天、兵器、邮电、电力、汽车、半导体、光电、通讯、生物科技等行业提供专业、完善、高质量的产品及优质的售前、售后服务。
正台——自诞生始，到现在，至将来，永远追求更好，拒绝平庸，追赶世界环境试验设备产业新潮流，走科技兴业、科学管理之路，不断开拓创新，*满足。随着市场的快速变化及客户的多样化需求，我们潜心倾力探研，引进日本先进技术，不但提高了产品的性能和可靠性，同时有效的降低制造成本，将其利润反馈给客户，使客户能拥有质量优良、价格合理之产品。
多年来，是客户的索引，把我们引向了责任、理想与荣誉。未来，我们将全力以赴，执着前行，我们深信今日“正台”的努力，乃是明日业界迈向成功的伙伴。
详细信息
浸渍式温度冲击试验箱用途：
适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于新能源、仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化条件下反复抵于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.
满足标准：
GJB150.5-86温度冲击试验
GJB360.7-87温度冲击试验
IEC68-2-14 试验N：温度变化
GJB150.4-86 低温试验箱试验方法
GJB150.3-86 高温试验箱试验方法
MIL-STD-202F美军标准,电子及电气试验方法
MIL-STD-883E美军标准,集成电路失效分析方法
GB 2423-22环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
浸渍式温度冲击试验箱主要参数
温度暴露范围：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃
测试时间： ≥10min
温度转换时间：≥30S
测试方式：试样放入不同温度的液体介质中
型号 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸渍在液体介质浴中，通过样品篮的移动到达低温或高温槽内 | |
试验样品尺寸(mm) | 130×160×130 【W*H*D】 | 160×160×220 【W*H*D】 |
使用电源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
