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OCI1302 光频域背光反射计

型号
OCI1302
参数
产地类别:进口 应用领域:电子,航天,电气
武汉东隆科技有限公司

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光谱影像、气体传感、硅光芯片测量、单光子计数、功率和光束诊断、TW/PW 激光器

武汉东隆科技有限公司(以下简称“东隆科技”)创立于1997年,坐落于著名的武汉·中国光谷的核心区。

武汉东隆科技有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、TW/PW激光系统六大光学应用领域。

成立至今,东隆科技秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。东隆科技在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。



详细信息

  光频域背光反射计采用外置激光器,与设备Laser端连接,实现分体式测量,OCI1302可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。外置激光器1可作为光源单独使用。

  光频域背光反射计的产品特点:

  •波长范围:C+L或O波段,精确波段由外置激光器确定

  •空间分辨率:10μm 50m

  •测量长度:100m

  •自校准,无需人为干预,稳定性好

  产品应用:

  •光器件、光模块测量

  •光纤长度精确测量

  •硅光芯片测量

  •光谱、群延时测量

  参数:

20220722112751_51669.jpg

 

 

 

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