赛默飞Nexsa™ X 射线光电子能谱仪材料分析和开发

Nexsa 能谱仪具有分析灵活性，可最大限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。

赛默飞Nexsa™ X 射线光电子能谱仪标准化功能催生强大性能： 

·         绝缘体分析

·         高性能XPS性能

·         深度剖析

·         多技术联合

·         双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

·         用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·         用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·         小束斑分析

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·         ISS：离子散射谱，分析材料最表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·         UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·         拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·         REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成聚焦的 XPS 图像，以进一步设置您的实验。

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动，不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置，这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap 

赛默飞Nexsa™ X 射线光电子能谱仪应用领域 

·         电池

·         生物医药

·         催化剂

·         陶瓷

·         玻璃涂层

·         石墨烯

·         金属和氧化物

·         纳米材料

·         OLED

·         聚合物

·         半导体

·         太阳能电池

·         薄膜