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超快时间分辨光谱测试系统
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- 参数
- 应用领域:综合
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北京卓立汉光仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高*技术企业。卓立汉光自1999年起，通过数年的不断努力，成长为光电仪器厂商之一。目前公司的电控位移台、手动位移台、光学调整架等产品已经形成产品系列化,规格多元化，国内多家科研单位、激光加工设备厂商、光纤设备厂商在使用我们的产品。2000年推出我司套量产型三光栅光谱仪后，不断推出了多套荧光、拉曼、光电探测器光谱响应、太阳能电池检测等光谱测量系统，广泛应用在众多高校和科研院所的研究与试验,为国家科技创新贡献了一份力量，产品凭借优良的品质远销欧美、东南亚等海外市场。 2005年10月在同行业中通过ISO9001质量管理体系SGS认证。2010年取得国家高*技术企业认定,2016年卓立汉光技术中心顺利通过市级技术中心评审。
卓立汉光主要生产经营：荧光/拉曼光谱系统、各类光谱测量系统、太阳能电池检测仪器、光栅光谱仪、各类型光源及探测器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件等系列产品。
我们诚心聆听用户的需要与批评，作为不断改进的动力，能让您满意卓立汉光的产品及服务，就是我们的成就。因此我们以卓立汉光的光机产品提供 “终身保固”的承诺,来表达我们对产品的信心。
我们坚持从设计、零件选型、制造、装配、检验、包装、运输、直到售后服务做好*质量保证，就是要让您 “付有所值”，以合理的价位得到优质的产品，这是我们对您选择卓立汉光真诚的回报。
卓立汉光始终以满足用户需求为宗旨，分别于上海、深圳、成都、西安设立分公司，为用户提供及时周到的销售与技术服务。“研发创新、快速反应、优质服务” 是我们的经营理念， 公司长期重视优质高效、短时间为客户开发产品及提供技术支持。卓立汉光真诚地希望与国内外同仁携手合作，为推动我国光电产业迅猛发展做出贡献。
详细信息
系统主要功能指标：
宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
高系统时间分辨率： <=5ps
寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us
高系统光谱分辨率： <0.1nm
宽单次成谱范围： >=200nm
静态（稳态）光谱采集，
瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线
系统集成整体控制及数据处理软件
超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析
主要应用方向
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光谱仪建议选型参数列表
光谱仪型号 | Omni-λ2002i | Omni-λ3004i | Omni-λ5004i | Omni-λ7504i | |||
光谱仪焦距 | 200mm | 320mm | 500mm | 750mm | |||
相对孔径 | F/3.5 | F/4.2 | F/6.5 | F/9.7 | |||
光谱分辨率（1200l/mm） | 0.3nm | 0.1nm | 0.08nm | 0.05nm | |||
波长准确度 | +/-0.2nm | +/-0.2nm | +/-0.15nm | +/-0.1nm | |||
倒线色散(1200l/mm) | 3.6nm/mm | 2.3nm/mm | 1.7nm/mm | 1.1nm/mm | |||
光栅尺寸 | 50*50mm | 68*68mm | 68*68mm | 68*68mm | |||
光栅台 | 双光栅 | 三光栅 | 三光栅 | 三光栅 | |||
与探测器耦合 | 中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板 | ||||||
系统光谱分辨率(1200l/mm) | <=0.3nm | <=0.2nm | <=0.1nm | <0.08nm | |||
一次摄谱范围(150 l/mm) | >230nm | >150nm | >90nm | >60nm | |||
光谱仪入口选项 | 光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等 | ||||||
多系统灵活组合
超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。
Zolix其他可配合超快测量系统
lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统
光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)
最小时间分辨率：16ps
荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器
激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源
科研级正置显微镜及电动位移台
空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器
OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件
Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统
测量模式：
1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；
2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。
探测器：sCMOS相机
成像空间分辨率：优于500nm
载流子迁移定位精度 优于30nm
时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选
搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块
<20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线
