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影像测量仪
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。专业的团队，专精的服务，提供理想的解决方案。
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理，为高校、企业科研工作者提供专业的分析解决方案。以专业技能为导向，用科技来解决用户在科研中遇到的难题。专业的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流，打消顾虑，彼此协作，为我国的科研领域谱写新篇章。
北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备，其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。
客户至上的服务理念，以人为本的企业文化，我们始终为用户提供专业的服务！
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详细信息
影像测量仪
来自蔡司的O-INSPECT复合式影像测量仪使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的可靠三维精度。
产品介绍
来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。
一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的三维精度。
一个附加的亮点：CALYPSO软件不仅简便地交付测量结果，而且简化了发觉和辨识错误原因的过程。
ZEISS O-INSPECT
每个领域中的专家
来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的三维精度。一个附加的亮点：CALYPSO软件不仅简便地交付测量结果，而且简化了发觉和辨识错误原因的过程。
大视野，高清图像——蔡司Discovery远心变焦镜头
蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较，提供四倍更大视场，即便于镜头周边区域亦可确保图像质量。优点：减少测量时间并具有稳定的精度。
更多测量点，更多信息——蔡司VAST XXT连续扫描测头
O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点，取得有关形状和位置的信息，是此类测量机中的。别的多探头测量机仅允许单点测量，而且探针测力相当大；蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量，所以针对薄壁的工件也能实现真正的3D测量。
既快速又精准。让您一目了然——蔡司CALYPSO软件
O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供可视化功能，使O-INSPECT开启了测量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。
