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Leica EM TXP 徕卡精研一体机
- 型号
- Leica EM TXP
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苏州鲁仪测控技术有限公司 凭借在测试仪器行业从业多年所累积下的丰富经验，在中国改革开放和电子行业高速发展带来的历史机遇以及客户的尊重和信赖下，坚持以客户为中心，坚持以奋斗者为本，专注于现代工业测试领域，为客户提供整套用于研发、生产和过程控制的电子测量测试用仪器仪表以及测试系统方案，涉及行业有检测单位、家电行业、医疗行业、新能源汽车、燃料汽车、光伏行业、LED照明等行业所涉及到的测试领域，协助掌控实验室和生产中关键的过程数据，改进生产力、质量、安全性并注重环境问题，成为客户获取更高品质及绩效的基础。
同时，公司也是集研发、生产、销售，技术服务为一体的安规测试仪器的专业厂商。公司始终致力于为广大客户提供专业的安规测试仪器以及综合的安规测试方案。产品主要包括：简易型单功能耐压仪、多功能安规综合测试仪、太阳能组件专用安规测试仪、LED驱动电源专用安规测试仪、PID测试仪以及安规测试系统。
公司以专业、创新、服务的企业精神，不断提升企业的竞争力，以能为客户提供更优质的服务，让我们携手共进，卓力成为优秀的测试伙伴。我们期待与您在测试领域能有更广更深的合作，取得共同进步。
营业项目
测试测量仪器：交流电源、直流电源、高压直流电源、安规测试仪、电子负载、气密性测试仪器、数据采集器、示波器、功率计、频谱与信号分析仪、网络分析仪、EMI接收机、万用表、线材导通测试仪、匝间测试仪、LCR表以及计量校准设备。
测试仪器整合：自动测试系统以及非标测试测量设备的集成。
详细信息
徕卡精研一体机
Leica EM TXP 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。
在Leica EM TXP之前，针对目标区域进行定点切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用Leica EM TXP，此类样品都可被轻易处理完成。
另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具。
徕卡精研一体机
与观察体系合为一体
看清细节
为微尺度制样而生
在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区城
将样品固定在样品悬臂上，在样品处理过程中，通过体视显微镜可对样品进行实时观察，观察角度0°至60°可调，或者调至-30°，则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EM TXP还带有明亮的环形LED光源照明，以便获得更佳的视觉观察效果。
★★★ 对微小目标区域进行精.确定位和样品制备
★★★ 通过立体显微镜实现原位观察
★★★ 多功能化机械处理
★★★ 自动化样品处理过程控制
★★★ 可获得平如镜面的抛光效果
★★★ LED环形光源亮度可调，4分割区段可选
多种方式制备处理样品
样品无需转移，只需切换工具
不需要来回转移样品，只需要简单地更换处理样品的工具就可完成样品处理过程，并且样品处理全过程都可通过显微镜进行实时观察。出于安全考虑，工具和样品所在的工作室带有一个透明的安全罩，可避免在样品处理过程中操作者不小心触碰到运转部件，又可防止碎屑飞溅。
Leica EM TXP 可对样品进行以下处理：
★★★ 铣削
★★★ 切割
★★★ 研磨
★★★ 抛光
★★★ 冲钻
自动化样品处理过程控制
让徕卡EM TXP来工作
EM TXP的自动化样品处理过程控制机制，可以帮助您从常规繁重的样品制备工作中解脱出来:
★★★ 带有自动化E-W运动控制机制
★★★ 带有自动化应力反馈机制
★★★ 带有自动化进程或时间倒计数功能
★★★ 带有应力反馈控制的空心钻自动前进
★★★ 带有润滑冷却剂自动注液和液面监控机制
精确的目标定位
★★★ 在显微镜辅助观察下，通过精密移动工具来帮助你实现
★★★ 如移动锯片到接近目标位置进行切割;然后不用取下样品，直接将锯片更换成研磨片对目标位置进行快速研磨;当快接近目标位置，可以采用Count down倒计数功能，自动研磨厚度(2 um)，或后采用Count down倒计时功能，自动抛光
★★★ 得益于精密机械控制部件，样品加工工具步进精度小可达0.5um
精确的角度校准
★★★ 在显微镜辅助观察下，通过角度校准适配器帮助你实现对样品角度的微调
★★★ 角度校准适配器固定在样品夹具和样品悬臂之间，可以实现水平方向和垂直方向分别士5°角度微调
