- 面议
参考价：
起订量：
多选 奥林巴斯带延迟块测厚仪探头
- 型号
- 多选
该企业相似产品
详细信息
奥林巴斯带延迟块测厚仪探头V201-RM 至V208-RM 超薄工件测厚
我们提供的各种频率、晶片直径及连接器类型的Panametrics超声探头有5000种以上。拥有40多年探头研制经验的OlympusNDT已经开发了用于缺陷探测、焊缝检测、厚度测量及材料分析等特殊应用的各种各样的定制探头。
优势
• 强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。• 较高的探头频率提高了分辨率。• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。
应用
• 测厚。• 垂直声束缺陷探测。• 对接触区域有限的工件进行检测。
可更换延迟块探头
• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和 一个固定环。• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。
奥林巴斯带延迟块测厚仪探头
选购型号:
| 频率 | 标称晶片尺寸 | 探头工件编号 | |
| MHz | 英寸 | 毫米 | |
| 2.25 | 0.25 | 6 | V204-RM |
| 5 | 0.50 | 13 | V206-RM |
| 0.25 | 6 | V201-RM | |
| 10 | 0.25 | 6 | V202-RM |
| 0.125 | 3 | V203-RM | |
| 15 | 0.25 | 6 | V205-RM |
| 20 | 0.125 | 3 | V208-RM |
可更换延迟块探头选项
| 标准晶片尺寸 | 标称延迟块 | 高温 | 干耦合延迟块 | 备用固定环 | 带有弹簧的支架 | |||
| *高175°C(350°F) | *高260°C(500°F) | *高480°C(900°F) | ||||||
| 英寸 | 毫米 | |||||||
| 0.50 | 13 | DLH-2 | DLHT-201 | DLHT-2 | DLHT-2G | DLS-2 | DRR-2 | 2130 |
| 0.25 | 6 | DLH-1 | DLHT-101 | DLHT-1 | DLHT-1G | DLS-1 | DRR-1 | 2127&DRR-1H |
| 0.125 | 3 | DLH-3 | DLHT-301 | DLHT-3 | DLHT-3G | DLS-3 | DRR-3 | 2133&DRR-3H |
