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YN-RCT-A 阿纳罗斯仪器工业原纸质量纸张环压专用取样器
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阿纳罗斯分析工程技术(广东)有限公司(简称:阿纳罗斯)以材料性能特征检测与数据分析为主的技术型企业。位于被誉为“制造工厂”,全球大型的制造业基地之一的东莞。
阿纳罗斯主要经营:材料透气、透水性能的测定,材料拉伸、压缩性能的测定,材料弯折、柔韧性能的测定,材料撕裂、剥离性能的测定,材料冲击、撞击、耐用性能,材料水分、厚度、密度的测定,材料导热、导电、绝缘、阻燃性能,材料环境、老化性能的测定,材料光学、色彩性能的测定,材料吸附性能的测定,粘度、PH值、电导率的测定等材料检测仪器,公司设有材料工艺质量检测与分析中心,可满足1000多种材料测试要求,提供专业的产品质量解决方案。公司依托东莞市成熟的制造业生产环境,先进的技术力量,自成立以来,为更好的满足市场及广大用户的需要,新产品层出不穷。
公司在不断发展中.欢迎客户来电来函或亲临工厂,查询及洽谈业务,我们一定会在短时间内,提供优良的服务,优惠的价格。我们的宗旨是“一切为了客户,为了一切客户,为了客户一切”。
“阿纳罗斯分析工程技术(广东)有限公司”真诚的期待与您合作!
详情说明
微电脑压缩强度测定仪用于包装印刷原纸环压强度测试,试样的长度和宽度为152mm*12.7mm标准尺寸,试样和导向必须是平行以确保纸张环压强度测试结果的平稳性和可重复性。试验机符合多种测试标准,除了用于测量瓦楞纸外皮和瓦楞芯纸的环压强度测定(RCT),同时还适用于瓦楞纸板的边压强度测定(RCT)、粘合剥离强度测定(PAT)、平压强度测定(FCT)和原纸实验室起楞后CCT和CMT测试。
阿纳罗斯仪器工业原纸质量纸张环压专用取样器工作原理
把原纸沿横幅方向切取一定尺寸的试样围成环形并对其施加压力,所测得试样的抗压强度的大小就是原纸的环压强度,环压强度由试样长度和极限压缩力计算而得。
依据标准
边压: GB/T 6546 、ISO3037;环压 : GB/T 2679.8、ISO 12192、TAPPI T822;粘合 : GB/T 6548;
平压 : GB/T 2679.6、 ISO 3035、TAPPI T825;CMT : ISO 7263、 TAPPI T809;CCT : TAPPI T843
阿纳罗斯仪器工业原纸质量纸张环压专用取样器产品特点
1.7in大屏幕彩色触摸屏,带曲线显示,中英文双语言自由切换;
2.高精度测力传感器,出厂准确误差控制在<0.3%;
3.内置空气循环散热装置,改善长时间操作设备故障;
4.采用精密滚珠丝杆传动,铝合金面板,保证仪器经久耐用;
5.导向压板保证非常高的横向刚度,确保了测试结果的可重复性;
6.采用上、下限位保护装置,过载保护,测试完成后自动回位,自动判断压溃力并自动保存测试数据;
技术参数
1、测量范围:0~3000N
2、准 确 度:≤±1%
3、试验力测试范围:0.4%~100%FS
4、压缩量范围:1~80mm
5、力量精度:≤±1%
6、力值分辨率:0.01N
7、变形量分辨率:≤0.1mm
8、压板平行度:≤0.05mm
9、测试速度:12.5±1mm/min
10、横向压力承载:71*21mm/10000N
11、纵向压力承载:R=20.5mm/2/10000N
12、轴心偏离保护:黄铜座套/不锈钢淬火升降轴
13、系统电源:固态电源
14、测试功能:边压、环压、粘合、平压、微小抗压
15、人机界面:7inch触摸屏,带数据处理功能,选配R232电脑连接软件
16、打印输出:模块式一体热敏打印机
17、外形尺寸:420m×400cm×500mm,
18、净 重:42kg
环压取样器+环压中心盘
1、试样尺寸:152*12.7mm
2、两长边平行度:≤0.015mm
3、取样厚度:(0.05~1.2)mm
4、外形尺寸:About480*150*620mm
5、重 量:20kg
环压中心试验盘
试样厚度:0.1~1mm(13组尺寸、1个母盘,新标准尺寸)
尺寸/重量270*330*9mm/约2kg
产品配置
标准配置主机、边压导块、热敏打印纸、电源线、说明书、合格证、保修卡
选配件环压取样器、环压中心盘、连接电脑软件、通信电缆
适用范围
环压测试(RCT): 环压取样器+中心盘: 适用于瓦楞原纸、纱管纸及包装印刷等纸张环压强度测试
边压测试(ECT): 边压取样器+导块: 适用于瓦楞纸箱、箱板纸、瓦楞纸纤维板等材料边压强度测试
粘合测试(PAT) : 粘合取样器+夹具: 适用于瓦楞纸板A/B/C/E楞纸板的里纸面纸粘合强度测试
平压测试(FCT) : 适用于瓦楞纸、瓦楞纸板、纸管彩盒等平压测试
CMT/CCT: 原纸起楞夹具: 适用于原纸起楞后楞纸支撑强度测试
陶瓷珠: 适用于各种陶瓷珠、陶瓷、煤矿、铁渣块等耐压强度测试
矿/煤: 适用于煤矿、铁渣块等块状材料抗压强度测试
灯 芯: 适用于灯条、灯芯粒等晶体抗压强度测试