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M8040A 高性能比特误码率测试仪
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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。
致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。
公司目前已授实用新型权利 29 项,软件著作权 14 项,是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。
高性能比特误码率测试仪是一种用于评估数字通信系统中比特传输质量的专业测试设备。该仪器能够精确测量比特误码率(BER),广泛应用于通信、网络和电子工程领域,以确保信号传输的可靠性和稳定性。
高性能比特误码率测试仪主要用于测试和分析各种数字通信系统的性能,包括光纤通信、无线通信和数据传输系统。工程师可以利用该仪器识别和定位系统中的误码问题,优化设备设计和提高系统的整体性能。
该测试仪通过发送已知的数字信号序列并接收其输出信号,比较发送和接收的比特数据。仪器使用高精度的时钟和数据采集技术,实时计算比特误码率,提供详细的统计分析和报告。用户可以设置不同的测试条件,如信号强度、频率和误码容忍度,以获得准确的性能评估,从而支持后续的改进和优化。
1. 高性能比特误码率测试仪覆盖所有类型的 400 GbE 标准测试,并且支持 PAM4 和 NRZ 信号以及高达 64 Gbaud 的数据速率
2. M8040A 高性能 BERT 的跳变时间更短,固有抖动更低,能够提供数据速率高达 64 GBaud 的纯净 NRZ 和 PAM4 信号。 M8040A 的远程端和 1.85 mm 短电缆使测试点可以尽量接近被测器件,大限度降低有损通道造成的信号衰减
3. 2 至 64 Gbaud 的 PAM4 信号数据速率
4. 真正的实时 PAM4 误码检测能力,数据速率高达 58 Gbaud
5. 内置去加重、分析仪均衡和时钟恢复功能
6. 整合和校准过的抖动注入:RJ、PJ1、PJ2、SJ、BUJ 和时钟/2 抖动
7. 每个模块有两个码型发生器通道,用于仿真干扰源通道
8. 8/16/32/64 GT/s PCI Express® 交互式链路训练和 SKP OS 过滤
9. 可以通过算法生成 PRBS、QPRBS 码型,也可以使用保存在存储器中的码型或是通过码型序列发生器生成的码型
10. 用于 PAM4、Gray 编码、FEC 编码、预编码器和误码分布分析
11. 所有选件和模块均可升
12. 提供真正的误码分析功能,能够提供准确且可重复的测量结果,从而优化您的器件的性能裕量