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Nexsa G2 表面分析系统

型号
参数
应用领域:环保,化工
赛默飞电子显微镜

高级会员2年 

生产厂家

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FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。

详细信息

Nexsa G2 表面分析系统自动表面分析和多功能的 X 射线光电子能谱仪

Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪(XPS)系统可进行全自动、高通量的表面分析,提供用于推进研发或解决生产问题的数据。 集成 XPS 与离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)和拉曼光谱,让您进行真正的联用分析。该系统现包含样品加热和样品加偏压功能选项,拓宽可进行的实验范围。Nexsa G2 表面分析系统发掘了材料科学、微电子、纳米技术开发和许多其他应用领域的潜力。

主要特点


高性能   X 射线源

全新的低功率 X 射线单色器,允许以 5µm为间隔、选择10µm 到 400µm 之间的分析面积,确保从感兴趣的特征区域收集数据,同时使信号。

样品视图

使用Nexsa XPS 的光学观察系统和 SnapMap 功能聚焦样品特征区域,有助于快速定位感兴趣的区域。

深度剖析

利用标准离子源或 MAGCIS(可选的双模式单原子和气体团簇离子源)获取表面之下的信息;离子源的自动校准和气体团簇的处理确保了的性能和实验的可重复性。

数码控制

仪器控制、数据处理和报告均由基于 Windows 的 Avantage 数据系统控制。

优异的电子光学系统

高效的电子透镜、半球形分析器和检测器使其具有的检测能力和快速的数据采集能力。

绝缘样品分析

双束中和源:既能出射低能离子,又能出射低能电子(小于1 eV)。在测试中能够对样品,特别是绝缘样品,进行很好的中和,令数据分析简单而可靠。

可选样品台

提供可选的各种特殊样品台,用于变角 XPS、样品加偏压测试或从手套箱惰性转移样品。

NX 样品加热器模块

全软件控制的样品加热功能选项,支持温度相关研究。

规格

分析器类型
  • 180° 双聚焦半球形分析器,128 通道探测器

X 射线源类型
  • 单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源

X 射线光斑尺寸
  • 10-400 µm(以 5µm 为单位可调)

深度剖析
  • EX06 单原子离子源或 MAGCIS 双模式离子源

样品最大面积
  • 60 x 60 mm

样品最大厚度
  • 20 mm

真空系统
  • 两个涡轮分子泵,配有自动钛升华泵和前级泵

可选配件
  • UPS、ISS、REELS、iXR 拉曼光谱仪、MAGCIS、样品倾斜模块、NX 样品加热模块、样品加偏压模块、真空转移模块、手套箱集成适配器




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应用领域 环保,化工
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