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2634B 吉时利数字源表
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- 2634B
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苏州威锐科电子有限公司一直致力于从事各种仪器仪表的销售、系统集成、销售及售后服务。威锐科的目标是致力于测试和测量科技的沟通与倡导，用诚挚的服务帮助用户工作效率和能力，通过公司全体员工不懈的努力，威锐科电子已经成为业界的仪器仪表销售公司之一。凭借着良好的信誉和强大的技术实力，在激烈的竞争市场中不断的发展和完善，成为众多企业、高校在生产、研发、教学等工作中的得力合作伙伴，并为客户提供的测试咨询以及的测试配套解决方案。
1、静电放电模拟器
SESD 216（电压范围：200V~16.5kV）
SESD 230（电压范围：500V~30kV）
SESD 30000（电压范围：1kV~30kV）
ESD - Test System 30 kV
2、电磁兼容抗扰度测试系统
1）电快速瞬变脉冲群发生器
SFT 1400-1: 125kHz / 5.0kV
SFT 1420-1: 2MHz / 4.8kV
SFT 2400: 125kHz / 5.0kV / 触摸屏
SFT 2420: 2MHz / 4.8kV / 触摸屏
2）雷击/浪涌发生器
CWG 520: 3x400V / 16A
CWG 1500: 1.2/50 μs_8/20μs / 4.4kV
CWG 2500: 1.2/50 μs_8/20μs / 4.4kV / 触摸屏
3)射频场感应的传导骚扰抗扰度测试系统
CDG700-25（功率25w，频率范围100kHz - 250MHz）
CDG700-75（功率75w，频率范围100kHz - 400MHz）
CDG700-75-10（功率75w，频率范围10kHz - 250MHz）
4）磁场发生器和分析器
MGA 1030（信号发生器DC-250 kHz）
5）共模传导干扰模拟器
PGA 1240（DC至300kHz频率范围）
6）绝缘和冲击耐受电压测试发生器
PG 01-2000 （测试电压4 kV – 10 kV，0,1 /2000μs的标准脉冲电压波形）
7）电源故障模拟器
VIS 1700（280Vac / 360Vdc）
详细信息
吉时利数字源表2600B系列系统数字源表源测量单元（SMU）仪表是利用吉时利第三代源测量单元（SMU）技术建造的。2600B 系列产品包括单通道和双通道型号，集成了高精密电源、真正电流源、6位半数字多用表（DMM）、任意波形发生器、脉冲发生器以及电子负载等功能——这些功能都在一个高度集成的仪器机箱内。这是一个功能强大的解决方案，大大提高了从台式 I/V特性分析道高度自动化生产测试等各种应用中的测试效率。对于台式应用，2600B系列数字源表内置基于Java的测试软件，支持即插即用I/V测试，可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。对于自动化系统应用，2600B系列数字源表的测试脚本处理器(TSP)，可以运行仪器内存储的完整测试程序，实现超高的吞吐量。在更大型的多通道应用中，吉时利的TSP-Link技术与TSP协同工作，实现了高度、SMU-per-pin并行测试。由于2600B系列数字源表源测量单元（SMU）仪表具有不需要主机的、隔离的通道，因此，可以根据测试应用需求的进展，很容易进行重新配置和重新部署。
吉时利数字源表特点：
0.015% 基本测量精度，具有 6½ 位分辨率
2604B 标价不含 TSP-Link、数字 I/O 和接触检查
后面板 Phoenix 连接器实现快速信号连接
与 KickStart 软件结合使用
产品功能与优势：
基于Java的即插即用I/V测试软件
2600B系列数字源表是内置基于Java测试软件的源测量单元（SMU）仪表， 支持真正的即插即用I/V特性分析，可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。这个功能提高了研发、教育和QA/FA等各种应用的测试效率。只需通过附送的 LAN电缆，将2600B数字源表连接至互联网，打开浏览器，输入2600B的IP低至，即可开始测试。测试结果可以下载之电子数据表（如Excel），供进一步的分析和格式化，或者导入其他文档或演示文稿。
采用TSP技术，提供的吞吐量，适合自动测试
对于需要最高自动化和吞吐量级别的测试应用来说，2600B数字源表的TSP技术提供了优秀的性能。TSP技术远远超越传统的测试命令序列……它嵌入，然后，在源测量单元（SMU）仪器内部执行完整的测试程序。这实际上避免了所 有耗时的总线-PC控制器之间的通信，因此，大幅缩短整个测试时间。
TSP技术将执行来自2600B系列数字源表内非易失性存储的完整测试程序。
通过TSP-Link技术，实现SMU-Per-Pin并行测试
TSP-Link是通道扩展总线，支持多 个2600B系列数字源表互连，成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作，支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是，2600B在无需主机成本或负担 情况下，实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统，还支持出众的灵活性， 可以根据测试需求的变化，迅速而容易 地对系统进行重新配置。
在TSP-Link系统中，所有通道的同步都控制在 500ns以内。
2400型软件仿真
2600B系列数字源表，与为吉时利2400 型数字源表源测量单元（SMU）仪表开发的测试代码兼容。这使得基于2400型数字源 表的测试系统更容易地升级至2600B系列， 并使测试速度提高高达80%。此外，它还提供了从SCPI编程转到吉时利TSP技术的过渡路径，实施后，可以进一步缩短测试时间。
为了全面支持遗留的测试系统，在这个模式下，还支持2400型源存储清单测试序列。
第三代SMU设计，确保实现更快的测试时间
在早期2600系列仪器成熟的架构基础 上，2600B系列最新的源测量单元（SMU） 仪表设计从几个方面提高了测试速度。例 如，早期的设计采用的是并联电流量程调 节结构，而2600 B系列采用了已申请的串联量程调节结构，这种结构具有更快 更平滑的量程变换过程和稳定速度更快的 输出。
SMU-Per-Pin并行测试采用TSP与TSP-Link技术，提高测试吞吐量，并降低测试成本。
2600B系列数字源表源测量单元 （SMU）仪表设计支持对各种负载使用 两种操作模式。在普通模式下，源测 量单元（SMU）仪表为最大吞吐量提供 高带宽性能。在高电容模式下，源测 量单元（SMU）仪表使用较慢的带宽， 为较高电容负载提供鲁棒的性能。
简化半导体元件测试、验证与分析
可选配的ACS Basic版本软件使客户可以在开发、质量认证或故障分析中，对封装器件进行特性分析。主要特性包括：
内容丰富、易于访问的测试库
脚本编辑器，实现现有测试的快速定制
数据工具，便于迅速比较测试结果
公式工具，便于分析俘获的曲线，并提供多种数据函数。
欲了解有关ACS Basic版本软件的更多信息，参见ACS Basic版本数据表。
强大的软件工具
除了基于Java的嵌入式即插即用软 件以及可选配的ACS Basic版本软件，免 费Test Script Builder软件工具，可以 帮助用户创建、修改、调试和存储TSP测 试脚本。图1给出2600B系列数字源表软 件工具的主要特性。
2600B系列产品3个最新型号的双通道 台式数字源表，提供优秀的价值和性能
如果想调试设计问题，首先必须知道存在问题。每个设计工程师都要用大量的时间查找电路中的问题，如果没有合适的调试工具，这项任务耗时长、非常麻烦。
吉时利对2600B系 列数字源表进行了扩展，推出3中最新的高性价比台式型号产品——2604B、2614B和 2634B。这些型号产品性能分别与2602B、 2612B和2636B相似，但它们不包括TSP Link、接触检查以及数字I/O能力。
完整的自动化系统解决方案
吉时利S500综合测试系统是基于仪 器的、可高度配置的系统，适合器件、 晶圆或晶圆盒的半导体特性分析。S500 综合测试系统基于已被证明的2600系列 系统数字源表源测量单元（SMU），提供 创新的测量特性与系统灵活性，可以根据需求进行升级。其测量能力， 再加上强大而灵活的自动特性分析套 件(ACS)软件，为客户提供全面的应用 范围和特性，这是市场上竞争产品所不具备的。
表1 2600B软件工具
特征/功能 | ACS Basic版本 | 基于Java即插即用软件 | Test Script Builder (TSB) |
说明 | 半导体特性分析软件， 用于元件测试、验证 与分析 | 迅速启动的、基于Java即插即用软件工具，支持快速和容易的I-V测试，主要用于台式和实验室用户 | 为TSP仪器定制的脚本编写工具 |
支持的硬件 | 2400系列、2600B系列、4200-SCS | 2600B系列 | 2600B系列，3700系列 |
支持的总线 | GPIB, LAN/LXI | LAN / LXI | GPIB, RS-232,LAN/LXI, USB |
功能 | 基于向导的直觉图形用户接口（GUI），丰富的测试测试库和曲线跟踪能力 | 直线/对数扫描、脉冲、自定义扫描、单点源测量注意：可使用2600B的新API实现精确定时和通道同步 | 总体灵活的自定义脚本，功能齐全的调试器 |
数据管理 | 公式工具，包括多种数学函数 | .csv文件导出 | 用户定义 |
安装 | 选购 | 不需要。内嵌在仪表中 | 免费下载或CD提供，安装在PC上 |
当您需要对封装器件数据进行快速采集时，通过 ACS Basic版本软件基于相当的用户界面，很容易 发现和运行期望的测试，就像常见的 FET曲线跟 踪测试一样。
ACS Basic版本软件具有灵活的软件体系结构，允许为 系统配置多种控制器与测试夹具，并可以根据应用需要， 配置所需的数字源表数量。
典型应用
各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：
分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC
– 射频集成电路（RFIC）
– 专用集成电路（ASIC）
– 片上系统（SOC）器件
光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
更多…
2604B/2614B型仪表的背板
(单通道2601B, 2611B, 2635B没有给出)。
2636B型仪表的背板
在第一和第三象限，2600B系列仪器用作信号源，向负载提供 电源。在第二和第四象限，2600B系列仪器用作信号宿，内部 消耗功率。
2601B、2602B和2604B的I-V测试功能
2611B、2612B和2614B的I-V 测试功能
2634B、2635B和2636B的I-V 测试功能
泰克授权代理商：苏州威锐科电子有限公司
我们的优势：泰克、日置、固纬、是德、海思、安柏、同惠、艾德克斯、普源、同惠等
订购信息：
型号 | 通道 | 最大电流源/量程 | 最大电压源/量程 | 测量分辨率（电流/电压） | 电源 |
| 2601B | 1 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2611B | 1 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2604B | 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2614B | 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2602B | 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2612B | 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
| 2635B | 1 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W |
| 2634B | 2 | 10A | 200V | 1fA / 100nV | 200 W |
| 2636B | 2 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W |
