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首页>分析仪器>X射线仪器>X射线荧光光谱仪(XRF)

EDX8000T Plus 镀层测厚光谱仪

型号
EDX8000T Plus
参数
价格区间:面议 行业专用类型:通用 仪器种类:台式/落地式 应用领域:建材,电子,冶金,汽车,综合
苏州英飞思科学仪器有限公司

高级会员3年 

生产厂家

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EDX8000T PLUS

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光谱仪,荧光光谱仪,XRF,Rohs检测仪,合金分析仪,测金仪,测硫仪,古董分析仪,矿石分析仪,土壤分析仪,测厚仪,手持式光谱仪,镀层测厚仪

公司简介:苏州英飞思科学仪器有限公司,坐落于美丽而现代的苏州工业园。公司专注于X射线荧光光谱仪的研发,生产和应用。基于多年的技术积累和沉淀,英飞思拥有整套XRF光谱仪的原生态研发和制造技术,包括50瓦,100瓦高压发生装置,50瓦光管的封装工艺,数字多道分析器(DPP),控制电路板的设计和研发,基本参数法(FP)软件著作权等。

我们不仅能提供整套光谱仪定制服务,而且能够提供专业而系统的元素成分分析解决方案,以满足客户日益严苛而高标准的测试需求。

公司英文全称:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

英文缩写:ESI

公司口号: Simply the best

公司产品:XRF荧光光谱元素分析仪(台式,便携式,手持式,全系列光谱仪)

XRF特点:无损测试,快速检测,准确分析

应用行业

贵金属,珠宝首饰,稀有金属

合金元素分析,牌号识别PMI,稀土,有色金属

矿产,地矿

土壤重金属

石油,化工(石油中低硫测试,油品中金属元素分析,船舶用油)

有害元素检测(RoHS 2.0,玩具,皮革,无卤分析)

镀层测厚

催化剂

古董,考古

食品安全,化妆品,药品重金属分析

建材,水泥,陶瓷,玻璃

液体及各种粉末等元素测试






详细信息

膜厚仪EDX-8000T Plus

     XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪


Simply The Best

 

>微光斑垂直光路专为镀层厚度分析而设计,可分析不规则样品厚度

 

>高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量

 

>高分辨率样品观测系统可移动高精度样品平台,准确快速定位测试点位

 

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及镀层厚度和材料成分进行测量

 

>搭载高精度手调X-Y平台,使微区测量更便捷 

 

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背景介绍

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

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XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10-30秒内完成。

 

膜厚仪EDX8000T Plus产品特点

>全新的下照式一体化设计

>测试快速,无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物软件配备距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,螺纹,曲面等)的异型的精准测试

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率

>自动切换准直器和滤光片

 

膜厚仪EDX8000T Plus应用场景

>EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>贵金属镀层,如金基上的铑材料分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层,例如 CrNTiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能电镀液离子浓度分析

 

技术参数

仪器外观尺寸:520mm*400mm*450mm

超大样品腔:430mm*370mm*210mm

仪器重量: 35Kg

镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)

成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)

可分析含量范围:1ppm-99.99%

涂镀层检出限:0.005μm,可同时分析5层以上镀层

探测器:高分辨率铍窗电制冷SDD探测器,可升级FSDD

多道分析器: 4096道DPP analyzer

X光管:50W高功率微聚焦光管

X射线照射方式:由下往上

准直器:自动切换圆形孔Φ0.1mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm,

可选配槽型0.05*0.1mm,0.05*0.3mm

滤光片:3种可切换

高压发生装置:电压最大输出50kV,自带电压过载保护

电压:220ACV 50/60HZ

样品平台:手动高精度XY轴移动平台

XY轴工作台移动范围:10mm*10mm,

可选配50mm*50mm

样品对焦:手动测距对焦

可选配纯元素标样,镀层校准片

环境温度:-10 °C 到35 °C

 

镀层专用分析软件,功能强大,方便易学

>基于无标样分析算法内核FP开发,提高测量精度

>带自动距离补偿算法

>一键测试,一键打印报告,可定制测试报告模板

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膜厚仪EDX8000T Plus可分析的常见镀层材料

 

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量

 

单涂镀层应用:如Ag/Cu,Zn/FeCr/Fe, Ni/Fe

 

多涂镀层应用:如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/FeAu/Ni/Cu

 

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu

 

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度


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产品参数

价格区间 面议
行业专用类型 通用
仪器种类 台式/落地式
应用领域 建材,电子,冶金,汽车,综合
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