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LJD-C 介电常数介质损耗测试仪
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生产厂家北京航天易达仪器设备有限公司是一家检测仪器行业的科技股份公司,注册资金1500万。公司致力于各类试验仪器的研发、生产、制造及销售,并拥有自主研发软件的专业团队,核心成员均具有精密试验仪器和材料检测行业背景。
公司自创建以来,不断吸纳行业内人才,形成一支具有丰富经验的研发队伍,目前已拥有强大的自主研发和创新能力,在充分保证产品质量的前提下,不断改进和完善,及时应用新标准、新技术。
公司现有电性能测试系列设备、机械物理性能测试系列、燃烧测试系列、试验机系列、试验箱系列、通用分析仪器系列等多个系列近百种产品。公司生产的试验仪器和检测设备均符合GB、JB、JG、IEC、ASTM等国内标准、行业标准和标准要求。
公司坚持“航天品质,服务至上"的理念,以用户需求和前沿技术驱动创新,推动检测仪器行业发展,为广大用户提供更优质、可靠的产品!
介电常数介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
技术参数
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术:
1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位
介电常数介质损耗测试仪主要技术特性
Q 值测量范围 | 2 ~ 1023 ,量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000,自动换档或手动换档 |
固有误差 | ≤ 5 % ± 满度值的 2 %(200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作误差 | ≤7% ± 满度值的2%( 200kHz ~ 10MHz),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
电感测量范围 | 4.5nH ~ 140mH |
电容直接测量范围 | 1 ~ 200pF |
主电容调节范围 | 18 ~ 220pF |
主电容调节准确度 | 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 % |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz ~ 160MHz |
频率分段(虚拟) | 100 ~ 999.999kHz ,1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz |
频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |