DX-HAST350H HAST加速抗湿性渗透老化箱
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- DX-HAST350H
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德祥仪器源自中国台湾，是广东德瑞检测设备有限公司全资子公司，是一家专业的可靠性实验设备制造商和解决实验测试方案综合服务商，拥有标准化的试验设备生产基地和设备展示厅，公司有自己的商标和十多项专证书，有完整的组织结构和管理体系，同时还建立了完善的售后服务体系，在国内已树立起良好的品牌形象。
研发团队由经验丰富、技术精良的行业专家组成，不断引进先进技术、积累丰富的经验，所有产品的主要部件均采用欧、美、日等国家地区的品牌元器件，确保产品的品质与性能，公司专注节能、低碳环保的可持续发展道路，荣获多项软件著作权及技术专证书，将可靠性、易用性和实用性结合，充分满足用户的试验需求。
产品系列包括：恒温恒湿试验箱系列、步入式恒温恒湿房系列、冷热冲击试验箱系列、快速温变试验箱系列、高低温交变试验箱系列、老化房系列、高空低气压试验箱系列、氙灯紫外线耐气候试验箱系列、外壳防护等级IP淋雨砂尘试验箱系列、盐雾耐腐蚀试验箱系列、三综合试验箱系列、航空航天检测设备系列、电池检测试验设备系列、包装运输试验设备系列、电子电器试验设备系列、五金橡塑材料试验系列、箱包检测设备系列、家具家具检测系列等等。产品广泛用于：科研单位、质检机构、大专院校、电子电器、新能源电池、汽车船舶、LED照明、电线电缆、航空航天、五金配件、橡胶塑料、金属、包装、建材等行业和领域；成为材料开发、特性试验、教学研究、品质管制、进料检验的得力助手。
公司已通过ISO9001认证,生产的检测设备符合：GB、GJB、ISO、IEC、ASTM、EN、JIS、TAPPI、ISTA、DIN、BS、CE、UL、BS、GMP、FDA等标准，可根据客户各种不同的特殊要求提供优质的咨询服务和解决方案。
详细信息
HAST非饱和加速寿命试验箱特点：
自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。
实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。
临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。
精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。
箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式不同，可延长packing寿命。
圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。
hast非饱和加速试验箱适用测试标准：
JESD22-A102 无偏压高压蒸煮试验 封装IC（芯片）
JESD22-A110-E 高加速温湿度应力试验（有偏置电压未饱和高压蒸汽）
JESD22-A103-E 高温贮存寿命试验
IEC61215-10.13 晶体硅光伏组件温箱试验-湿热试验 太阳能光伏组件 减少试验时间
在当今的高科技世界里，半导体器件的性能和可靠性对于各种电子设备的质量和安全性至关重要。然而，这些器件可能会受到环境条件的影响，特别是湿度和温度，从而可能导致故障或性能下降。为了确保半导体器件的可靠性和持久性，HAST加速抗湿渗透老化箱已成为一种重要的测试工具。
HAST加速抗湿渗透老化箱，也称为高压加速寿命试验（High-Altitude Simulation Test）设备，主要用于测试半导体封装之湿气能力。这种设备模拟了恶劣的环境条件，包括高温、高压和高度真空，以加速水分通过外部保护材料或密封剂或外部材料和导体之间的渗透。这种测试方法有助于评估和预测半导体器件在实际使用环境中的性能和可靠性。
HAST老化箱的运作原理主要是通过在设定的温度和湿度条件下连续施加压力来实现的。这种压力模拟了外部环境条件，如高度和湿度，对半导体器件的影响。同时，这种设备还配备了各种传感器和监控设备，以监测测试过程中的各种参数，如温度、湿度和压力。
HAST加速抗湿性渗透老化箱的设计和结构通常包括一个密封的测试腔体、加热和冷却系统、高压泵以及控制系统。测试腔体提供了测试器件的理想环境，加热和冷却系统能够精确控制测试温度，高压泵用于产生高压环境，而控制系统则负责整个设备的操作和监控。
使用HAST老化箱进行测试的过程通常包括以下几个步骤：将被测器件放入测试腔中，设置测试参数，如温度、湿度和压力，然后启动设备开始测试。在测试过程中，设备会持续监测各种参数，如湿度、温度和压力的变化，以及被测器件的性能表现。测试完成后，分析测试数据并得出结论。
HAST加速抗湿性渗透老化箱对于评估半导体器件的可靠性和耐久性具有重要作用。通过模拟恶劣的环境条件，这种设备能够快速检测出潜在的问题和故障，从而确保了半导体器件在实际使用中的性能和安全性。此外，由于其采用的高压加速方法，使得测试过程比传统的老化测试更快，从而大大提高了测试效率。
