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NM-300 优可测衍射三维形貌仪
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ATOMETRICS优可测是板石智能旗下专注于高精测量领域的国产自主品牌，致力为半导体、精密光学、新能源、3C消费类电子、医疗、刀具、航空航天等行业和高校提供三维测量产品、解决方案及相关服务，产品精度覆盖到微米、纳米甚至亚纳米级，满足生产、研发和品控过程中表面粗糙度、台阶、3D形貌、三维形貌比对、高度、平面度、几何图形、平面尺寸、3D轮廓等各种测量需求。优可测衍射三维形貌仪，光栅尺寸新一代测量解决方案，可测膜厚、占空比、侧壁角等，广泛应用于光通讯硅波导、生物芯片、NAND、AR/VR结构光栅、DRAM、光学薄膜等，可测多种形貌结构，可根据客户不同光栅类型和场景提供客制化。
