主要优点&特点：
1、更高的灵活性
为广大用户群体提供全远程自动操作的、具备表征超大纳米尺度范围的工具。
*纳米材料的发展和设计需要在超大纳米尺度范围上进行表征。
Xeuss 3.0具备这样的测试能力，通过自动改变配置，采集的散射矢量q可跨越5个数量级。
因此，对于给定的单个或批量样品，任何经过培训的用户都可以在完整的测量范围内远程操作系统。
可自动更改的测量设置包括：
- Q-Xoom通过探测器的自动平移来改变测量分辨率 
- 使用Bonse Hart USAXS模块可以实现连续的SAXS/USAXS测量
- X光源能量可选，提供3个可选光源
- 用于原位SWAXS研究的可移动WAXS探测器

+ Q-Xoom在真空环境中移动探测器
Q-Xoom–享受全范围计算机控制探测器行程的灵活性
- 特性：探测器在真空中沿光路自动移动1 ~ 4米（取决于所选型号）
- 虚拟探测器的探测面积大于200 x 200 mm²
- 在实验过程中，远程操作和实时数据显示（二维和一维），减少了停机时间，优化您的实验过程
- 将样品放在固定位置为样品环境留出空间
- 在真空中用纯净光、无窗探测器测试或在空气中用X-Cones进行测试

+ 自动的Bonse-Hart USAXS模块
测量尺度可达4.5微米，并获取纳米尺度信息
- 内外移动的分析晶体可确保在同一个样品上USAXS和SAXS能够自动连续采集
- 高质量SAXS和USAXS数据合并
- 无需人工操作或仪器重置
- USAXS和SAXS/WAXS入射光在一条直线上，故无需移动样品

+ 多种光源
对任何种类样品(吸收，荧光，特征尺寸)的实验进行优化
- 在自动切换光源时仪器可自动校准光路
- 多达3个光源模块 （Cu, Mo, Cr）可以与Ga MetalJet光源一起使用
- 不同光源的高精度切换，确保不同波长对同一样品的连续测量

2、高性能
Xeuss 3.0实验装置灵活，用于测试各种样品
尤其，以下关键特点使用户得以优化实验和结果:
- 高光通量设置和内置低背景无噪音探测器，适合快速动力学测试
- 探测器从WAXS位置自动移动到远距离的SAXS位置，且在任意位置均可探测大面积图谱，以优化分辨率和信噪比
- 远距离的SAXS设置可测量大特征尺寸样品(> 300 nm)
- 可选的USAXS模块进行超大结构表征(> 4 μm)

- 单个二维探测器可采集的q_max优于49nm^-1

+ 无beamstop数据采集高动态范围SAXS数据
- 杜绝来自Beamstop边缘或探测器窗口膜的寄生散射，使低q处的散射信号不受干扰
- 在采集过程中同时记录直通光和样品散射信号，得到精确的透射强度，用于获取精确的强度校正
- 采集的直通光信号将整合到数据分析软件（XSACT），提高解析结果的准确性

+ 纯净光技术
- 作为一个标准的解决方案，Xeuss 3.0集成低维护成本的高性能微聚焦光源，亮度达到了之前高功率旋转阳极靶光源才能实现的水平。
现在实验室中就可进行诸如动力学研究或稀释样品的纳米粒子形状分析的高级实验。另外，通过结合Xenocs公司的X射线光束和自动无散射准直系统实现高分辨率（光束Δq低），这对研究大特征尺寸的样品或进行准确中间相的分析都非常重要。
通过以下组合实现高光通量和高分辨率：
- 持久的高亮度微聚焦光源
- 具有高立体采集角的单次反射多层膜光学聚焦镜
- 样品和探测器上光束尺寸二维可控

为了保证X射线散射的测试质量，包括稀释的或对比度低的样品，Xeuss 3.0将10多年研发的高光通量和低噪音技术相结合。
主要集成功能包括：
- 从聚焦镜到探测器传感层的全真空系统
- 第三代无散射准直 （于2008年由Xenocs引入市场）
- 真空中运行的无窗口探测器
- 混合像素光子计数探测器
- 宇宙背景自动扣除技术，减少环境寄生散射的影响

配备MetalJet光源，用于非常快的动力学研究

+ Q-Xoom具有非常大的探测面积
Q-Xoom采用电脑控制探测器全程移动，自动调节样品到探测器距离，优化实验。
虚拟探测器增强测试能力：在任意的样品到探测器距离下，结合图谱重构技术，任何规格的探测器的采集面积都将大于200 mm² x 200 mm²。
超大探测面积有利于优化各向异性样品信号的方位角覆盖，还有利于高分辨率测试，例如在距离样品较远处用偏置的探测器采集到更大的散射矢量，以表征较小的尺度。

3、样品空间大
Xeuss 3.0的超大样品腔有利于固定实验过程中的样品，这是目前以至今后的理想的X射线散射平台仪器。
*材料的研究和表征需要集成特定的或定制的样品环境。由于其*的线站理念，Xeuss 3.0非常适用于这种新项目。
包括：
- 在测试过程中样品在大样品腔中保持固定（轴方向可持续观察样品，智能集成用户自定义样品环境）
- 样品台的长距离平移可用于空间分布扫描和批量测试
- 多种标准样品环境，并具备样品台识别功能