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MINITEST740
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详细信息
EPK MINITEST740
EPK MINITEST740
EPK MINITEST 720/730/740涂层测厚仪标准配置： 配件:
带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730（外置探头）
--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪技术数据表
SIDSP探头
涂层测厚仪探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
涂层测厚仪测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
涂层测厚仪使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
涂层测厚仪测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
涂层测厚仪信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
涂层测厚仪精度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
涂层测厚仪重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
