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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM
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详细信息
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特点
能量色散X射线荧光光谱仪，自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量，采用ISO 3497和ASTM B 568标准；
XDLM的最小测量点： 0.1毫米; XDL的最小测量点：约 0.2毫米
钨X射线管或钨微焦点管（XDLM）作为X射线源
经验证可用于快速测量的比例接收器探测器
固定或可更改的准直器
固定或可自动切换基本滤片
可选择手动或可编程的XY载物台；
开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
通过摄像头可轻松固定测量位置
经过认证的全面保护设备；
