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NANOTRAC WAVE II Zeta电位及纳米粒度分析仪
- 型号
- NANOTRAC WAVE II
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我们将一如既往，努力为客户提供完善的实验室一站式服务。
详细信息
NANOTRAC WAVE II Zeta电位及纳米粒度分析仪采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速。
无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。
Zeta电位及纳米粒度分析仪技术参数
测量原理：动态光散射法
Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率
分子量测量：水力直径或德拜曲线
测量范围：0.3 nm - 10 µm
检测角度：180°
重复性：±1%
Zeta电位范围：-200mV~+200mV
Zeta粒径范围：10nm~20μm
电泳迁移范围：0 - 15 (µm/s) / (V/cm)
电导率范围：0 - 10 mS / cm
分子量范围：<300 da="" -="">20 x 106 Da
控温范围：+4°C ~ +90°C
温度精度：±0.1℃
Zeta测量重复性：±3%
Nanotrac Flex：180°动态光背散射
Nanotrac Wave II：动态光背散射
粒径与粒形分析方法
| 方法名称 | 激光衍射 | 动态光散射 | 动态图像分析 | 静态图像分析 |
| 测量范围 | 10nm-4000μm | 1nm-6500nm | 0.8μm-135mm | 0.5μm-1500mm |
| 尺寸计算方法 | 间接/来自光散射图案 | 间接/来自布朗运动 | 直接/来自颗粒图像 | |
| 单个粒径分析 | 无 | 无 | 有 | 有 |
| 测量速度 | 10-60秒 | 30-180秒 | 2-5分钟 | 10-60分钟 |
| 粒形分析 | √（SYNC型除外） | × | √ | √ |
| 湿性分析 | √ | √ | √ | √ |
| 干性分析 | √ | × | √ | √ |
| Zeta电位&分子量 | × | √ | × | × |
| 优势 | 效率、样品多样性、重复性 | 纳米材料分析，浓度范围宽 | 效率、样品多样性、重复性、高精度、高分辨、参数多样性 | 精度的形貌测量 |
