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Xradia 510 Versa显微镜
高级会员第10年
代理商北京中显恒业仪器仪表有限公司(简称:北京中显)是一家位于首都北京的科学仪器提供商。北京中显致力于把沿的科技和先进的仪器设备引进中国,以科学严谨的理念为中国用户提供科学、专业、高性价比的解决方案。
北京中显成立于2010年,有12年的显微光学服务经验,除国产四大进口品牌显微镜外,还代理销售多家国产品牌显微镜,积累了大量的行业应用和显微镜用户。北京中显拥有国内外多家科学仪器的代理权,是加拿大形创(Creaform 3D彩色扫描仪)的授权代理商。北京中显服务的客户涵盖传统制造、航空、航天、船舶、机械、电子、铸造、冶金、电力、石化、地质等行业,在高等院校、科研院所、考古文博、质量检测、刑侦物证、装备制造、工矿企业、工业材料、军工系统、汽车零配件等领域都有我们长期服务的客户。北京中显积极响应“中国制造2025”强国战略的号召,整合全球智力资源,引进欧美先进科技,为中国制造业的提升和伟大复兴的“中国梦”实现努力做出自己的贡献。
北京中显自2010年成立以来,通过自身过硬的实力和周到的服务迅速赢得了广大客户的认可,清华大学、北京大学、中科院大学、北京科技大学、中国地质大学、中国矿业大学、中国公安大学、北京理工大学、北京航空航天大学、山东大学、中国海洋大学、河北大学、河北地质大学、华北理工大学、山西大学、太原理工大学、郑州大学、河南大学、河南理工大学、河南科技大学、青岛科技大学等院校及公安部物证中心、河南省公安厅、中国地质科学院、中科院天文台、故宫博物院、河南省文物考古研究院等政府和科研单位及中航工业科技集团、宇通客车、长城汽车、平高电气、奔驰汽车、济南重汽、富士康、中通客车、宇通客车、洛阳一拖、洛阳轴承等企业都是北京中显长期服务的优质客户。北京中显多次在政府采购和企业招标采购中成为中标供应商。
在新时代,北京中显将在现有的科学仪器专业提供商基础上增加科技元素,向科技型、服务型公司转型。通过不断探索和持续创新,为广大用户提供更先进、更个性化的解决方案。
北京中显自成立伊始就坚持“为天地立心、为生民立命、为往圣继绝学、为万世开太平”的经营理念,在合法经营、照章纳税、提供就业的同时也不忘回报社会,公司积极参与社会公益。为响应国家精准扶贫政策,北京中显通过甘肃兴华青少年助学基金会和清华大学研究生助教团定点长期资助河南省南召一中和青海省湟中一中资助优秀贫困高中生各一名。北京中显还长期资助“爱心包裹”活动,中国扶贫基金会多次向颁发荣誉证书,这是国家对我公司长期从事慈善事业的肯定与鼓励。2019年,经河北省驻京办推荐和考核北京中显成为北京河北企业商会常务副会长单位。
总体描述沿袭前一代的获奖设计,Xradia 510 Versa 已然成为 Xradia Versa 系列中拥有出色三维成像性能的基本款型,但其不包含旗舰产品的高级功能与特性。技术参数:Xradia Versa 系列使用两级放大技术,实现大工作距离下的高分辨率(RaaD)。首先,样品图像与传统微米 CT 一样进行几何放大。在第二级,闪烁器将 X 射线转换为可见光,然后进行光学放大。Xradia Versa 解决方案降低了对几何放大的依赖性,因此可在大工作距离下保持亚微米高分辨率,使得对各种尺寸的样品和原位样品舱内的样品进行高效研究成为可能。无损三维成像,尽可能实现更大限度保护和扩展贵重样品的利用率 使用Versa显微镜设计,实现距离射线源大工作距离的高分辨率,是原位和大体积样品成像的先决条件 多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像,拥有高达0.7微米的真实空间分辨率,体素大小低至70纳米 业内*的4D和原位功能提供多种原位辅助装置,适用于实际尺寸从毫米到数厘米的样品的亚微米级分辨率成像,承重可达 15kg,样品尺寸最大到300mm 双级放大构架可以轻松通过多种倍率检测系统进行导航,通过自动多点断层扫描和重复扫描进行连续运转以及快速重建 适用于低原子序数材料和软组织的*成像衬度解决方案 搜索和扫描(Scout-and-Scan™)功能可实现多用户环境下的简化工作流程 几乎无样品制备需求 可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内(如线缆和管线)的配套设施,达到更高的成像性能和轻松设置 可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品,提高了生产效率,全自动工作流程可用于大体积扫描 特点:距离射线源数毫米至数厘米,仍能获得真实的亚微米级空间分辨率Xradia 510 Versa 充分发挥了X射线显微镜(XRM)的性能,能够为各种不同的样品和研究环境提供灵活的3D成像解决方案。Xradia 510 Versa 拥有高达 0.7 微米的真实空间分辨率,体素大小低至 70 纳米。结合*的吸收衬度技术和适用于软材料或低原子序数材料的创新相位衬度技术,Xradia 510 Versa 的通用性得到提升,以至能够突破传统计算机断层扫描方法的局限性。 性能超越微米CT,突破了过去科学研究中使用平板系统的局限。传统断层扫描依赖于单级几何放大,而 Xradia Versa 依靠拥有在长工作距离下优化的分辨率、衬度和高分辨检测系统,并采用了基于同步口径光学元件的两级放大技术。蔡司突破性的的大工作距离下的高分辨率(RaaD)特性,实现了在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行全新的探索。 无损X射线和灵活的多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像。作为业内*的4D/原位解决方案,Xradia Versa 可以对原始环境下的材料微结构,以及随时间的演化进行的表征。可选配的Versa原位套件通过优化设置和操作,操作极为简便,同时缩短了获得结果的时间,并支持原位辅助装置(如线缆和管线),实现高成像性能和易用性。 另外,搜索和扫描控制系统(Scout-and-Scan™)可实现多用户环境下的简化工作流程。 | |