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JPS300 佳谱科技三元前驱体元素分析仪
- 型号
- JPS300
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苏州佳谱科技有限公司
高精度X射线荧光元素分析仪/前沿技术创新型企业
灵敏和高可靠性痕量元素分析解决方案。公司有手持式、便携式、实验室和在线式四种产品技术平台，主要应用于新能源锂电材料、土壤调查、水质监测、农产品加工筛查、食品安全监测和工业在线监测等领域。
苏州佳谱科技有限公司创始人陈泽武博士自1998年发明高效双曲面弯晶以来，分别在中国、美国、日本和欧盟等国家获得发明技术。陈泽武博士带领其团队实现了双曲面弯晶在X射线荧光光谱仪的广泛应用，发明了MWDXRF和HPXRF的两种XRF技术路线及其系列产品；佳谱科技高精度X射线荧光元素检测仪采用了双曲面弯晶单色光聚焦技术即HDXRF，实现了X射线荧光光谱仪在元素检测中的精准分析。
高精度X射线荧光元素分析仪（HPXRF）
单色聚焦型能量色散XRF
工作原理：X光管发射X射线，经过DCC双曲面弯晶使X射线荧光单色化后再聚焦照射到待测样品上，样品产生二次特征X射线荧光。由于单色聚焦后的X射线荧光能量增强，并且没有杂色光干扰，样品产生的各个元素特征X射线荧光，经过探测器信号计算响应，产生优异检出限和高精度定量结果；
各样品基质在定量方法建立中可用FP基本参数法或者经验系数标定法。
详细信息
佳谱科技三元前驱体元素分析仪
三元前驱体多元素分析
PRODUCT INFORMATION
产品介绍
◆ 佳谱科技三元前驱体元素分析仪可以针对各种类型的矿物粉末及矿物浸提液体中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行矿样品质评价。
◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，样品直接检测即可得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。
◆ 快速准确分析矿物中钠、镁、铝、硅、钙、硫、磷、氯、铁、钴、铜、锰等元素含量。
◆ 内置多条曲线，FP（基本参数）计算方法、可针对不同基体分析。
◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体粉末等。
JPS300仪器主要是用于元素、化学溶液和产品纯度的准确定量分析，在新能源材料领域可应用于多个生产工艺环节和最终产品质量的监测控制，特别对Mg、Al、Si、 P、S 、Cl 、K 、Ca等元素含量具有理想分析，可提供重要参考数据。
产品特点
◆ 五分钟内可得到样品中目标元素准确结果。
◆ 单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。
◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。
◆ 电池新材料生产工艺过程中溶液元素成分的快速和实时监测，及时掌握溶液关键元素和杂质元素的含量变化情况，保证生产质量受控。
◆ 电池新材料行业精矿原料中元素成分的快速准确监测，及时获取原料的品质参数信息。
◆ 新材料三元前驱体的快速准确定量检测，确保产品质量。
◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。
◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。
◆ 支持蓝牙打印功能、支持4G、5G远程数据传输。
◆ 仪器有自动保护功能，当进样舱开启时，可自动断开。
分析曲线图
120g/L硫酸镍溶液基质中0-10mg/L的Ca元素拟合形成的标准曲线
多元素应用
JPS300满足高浓度硫酸钴溶液中Si S Cl K Ca Cr Mn Fe Cu Zn Ni As Pb等元素的高精度定量检测，适用于镍、钴、锰原料矿样和三元前驱体粉末快速准确检测。
检出限
技术参数
电源 110-240 VAC，50-60 Hz
检材 液体、固体粉末等
测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF
测量范围 钠、镁、铝、硅、钙、硫、磷、氯、铁、钴、铜、锰等多种元素
晶体 DCC（双曲面弯晶）晶体实现激发X射线单色化聚焦，优化提高元素检出限和定量精度
电子元件 处理器不低于1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM；4096道高性能MCA；自主开发数据分析系统；
探测器 高效快速硅漂移Fast SDD 探测器
光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统
工作温度 -5 °C~50 °C
环境湿度 相对湿度≤70%
语言 中/英文语言切换
重量 ≤9Kg
尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH
