线扫描工具可处理 Anritsu 手持式射频仪器系列的轨迹,以天线和线缆服务需要的测量结果为重点。 例如回损、故障点定位、PIM 测量,甚至部分 S11 测量。
线扫描工具兼容其他较早的 Site Master 生成的轨迹,甚至早至 Site Masters A 系列,例如 S331A。
支持的仪器 |
产品系列 | 仪器 | 线缆和天线分析仪模式测量 | 传输测量 | 双端口电缆损耗或双端口增益 | 无源互调 (PIM) 测量 | 史密斯图 |
Site Master | S113B | X | | | | X* |
S114B | X | | | | X* |
S251B | X | | | | X* |
S331B | X | | | | X* |
S332B | X | | | | X* |
S113C | X | | | | X* |
S114C | X | | | | X* |
S251C | X | | | | X* |
S331C | X | | | | X* |
S332C | X | | | | X* |
S810C | X | | | | X* |
S820C | X | | | | X* |
S311D | X | X | | | X* |
S312D | X | X | | | X* |
S331D | X | X | | | X* |
S332D | X | X | | | X* |
S325D | X | | | | X* |
S810D | X | | X | | X* |
S820D | X | | X | | X* |
S820E | X | X | X | | X |
S331E | X | X | | | X* |
S332E | X | X | | X | X |
S361E | X | X | | | X |
S362E | X | X | | X | X |
S331L | X | | | | X* |
S331P | X | X | | | X* |
PIM Master | MW82119A | | | | X | |
MW82119B | | | | X | |
Spectrum Master 支持 PIM 分析仪 MW8208A MW8209A MW8219A | MS2711E | | | | X | |
MS2712E | | | | X | |
MS2713E | | | | X | |
MS2721B | | | | X | |
MS2722C | | | | X | |
MS2723C | | | | X | |
MS2724C | | | | X | |
MS2725C | | | | X | |
MS2726C | | | | X | |
Cell Master | MT8212A | X | | | | X* |
MT8212B | X | | | | X* |
MT8212E | X | X | | X | X |
MT8213E | X | X | | X | X |
BTS Master | MT8222A | X | | | X | X |
MT8221B | X | | X | X | X |
MT8222B | X | | X | X | X |
MT8220T | X | | X | X | X |
支持的仪器 |
产品系列 | 仪器 | 共场模式测量 | 插入损耗 | 史密斯图 | 共矢量网络分析仪测量 |
LMR Master | S412D | X | | X* | |
S412E | X | X | X | X |
VNA Master | MS2024A | X | | X | X |
MS2026A | X | | X | X |
MS2034A | X | | X | X |
MS2036A | X | | X | X |
MS2024B | X | X | X | X |
MS2025B | X | X | X | X |
MS2026B | | | X | X |
MS2028B | | | X | X |
MS2034B | X | X | X | X |
MS2035B | X | X | X | X |
MS2026C | | | X | X |
MS2028C | | | X | X |
MS2036C | | | X | X |
MS2038C | | | X | X |
注释: - 线扫描工具也可使用已停产的 "A" 系列 Site Masters 采集的手持式软件工具文件。
- X* = 对于这些仪器,LST 使用其他轨迹创建史密斯图。
共场模式测量 共矢量网络分析仪测量